Новости отрасли

Рентгеновский дифрактометр, также известный как рентгеновский кристаллический дифрактометр, сокращенно XPD или XRD, представляет собой прибор для изучения внутренней микроструктуры вещества. Рентгеновский дифрактометр обладает такими преимуществами, как высокая точность, высокая стабильность и удобство в эксплуатации.

Рентгеновская дифракция (XRD) является основным методом изучения фазовой и кристаллической структуры вещества. Когда вещество (кристаллическое или некристаллическое) подвергается дифракционному анализу, вещество облучается рентгеновскими лучами для получения различных степеней явления дифракции, состав материала, тип кристалла, режим внутримолекулярной связи, молекулярная конфигурация, конформация и другие характеристики материала определяют специфическая дифрактограмма вещества.