Новости отрасли

В рентгеноструктурный анализ в качестве источника дифракции используются монохроматические рентгеновские лучи, которые обычно могут проникать в твердое тело и проверять его внутреннюю структуру. Рентгенографический анализ дает информацию об объемной фазовой структуре материала.

С 1990-х годов в исследовании материалов широко используется технология рентгеновской томографии с синхротронным излучением.

Рентгеновская абсорбционная спектроскопия — это спектральный метод анализа элементного состава и электронного состояния материалов с использованием изменений сигнала до и после воздействия рентгеновских лучей синхротронного излучения.

Синхротронное излучение — это электромагнитное излучение, возникающее в касательном направлении орбиты, когда электрон движется по высокоскоростной кривой, и которое можно использовать для проведения многих передовых научных и технологических исследований.

В настоящее время XAFS применяется во многих областях, особенно в области исследования катализа и аккумуляторных материалов, и стал важным точным методом определения характеристик.

При использовании графитовых материалов в качестве материалов отрицательных электродов литиевых аккумуляторов одним из необходимых условий является степень графитизации.

В 1912 году Лауэ и др. предсказанное теорией и подтвержденное экспериментом, что дифракция может произойти, когда рентгеновские лучи встречаются с кристаллом, доказав, что рентгеновские лучи обладают свойством электромагнитной волны, что стало первой вехой в дифракции рентгеновских лучей.

Рентгеновская дифракция — широко используемый неразрушающий аналитический метод, с помощью которого можно выявить кристаллическую структуру, химический состав и физические свойства веществ.

Рентгеновская дифракция, посредством дифракции рентгеновских лучей материала, анализа его дифракционной картины для получения состава материала, структуры или формы атомов или молекул внутри материала и других средств исследования.

Материал, в свойствах которого преобладают двумерные эффекты, свойства материала в двумерном масштабе отличаются от его свойств в более крупном масштабе.