Состав дифракционной картины в основном определяется положением и интенсивностью дифракционного пика, а наш анализрентгеноструктурный анализРисунок основан на изменениях интенсивности и положения и объясняет изменения микро- и макроматериала.
Каждый материал имеет свою собственную характерную дифракционную картину, также известную как характерная дифракционная картина. Размер ячеек материала определяет положение дифракциялиния, то есть положение дифракционного пика, которое мы видим на дифракционном спектре, тип атомов в ячейке и их положение определяют интенсивность дифракционного пика, а симметрия формы кристалла определяет количество дифракционных пиков.
Дифракция возникает только вкристалл, а рассеяние происходит в некристалле. И когда поверхность кристалла будет соответствовать закону Брэгга, будет генерироваться соответствующий дифракционный сигнал. В спектре рентгеноструктурный анализ каждое вещество имеет свой характерный дифракционный спектр, разные вещества дают разные дифракционные спектры, в гетерогенной смеси веществ спектр, показанный в рентгеноструктурный анализ, представляет собой простую суперпозицию каждой фазы.