1.Как строго отличить структуру аморфных, квазикристаллов и кристаллов на рентгенограмме?
Отвечать:Между этими тремя не существует строго определенного разделения. Нарентгеноструктурный анализКартина, полученная с помощью дифрактометра, характеризуется несколькими или более узкими"шипы"которые, как правило, независимы друг от друга. Если эти"пики"значительно шире, то можно определить, что размер частиц кристаллов в образце будет менее 300 нм, что можно назвать"микрокристаллы".
Характерной чертой аморфной дифракционной картины является то, что лишь незначительное изменение интенсивности рассеянного светаРентгеновские лучинаблюдается во всем диапазоне углов сканирования, который может иметь от одного до нескольких максимальных значений; Вначале, поскольку интенсивность луча близка к прямому лучу, интенсивность быстро уменьшается с увеличением угла, а интенсивность высокого угла медленно приближается к фоновому значению прибора.
"аморфный"переход между этими двумя типами является"квазикристаллический"состояние.
2.Если при дифракции рентгеновских лучей вы используете разные мишени, например медную мишень или мишень из хрома, будут ли их спектры одинаковыми?
Отвечать:Разные цели имеют разные характеристические длины волн. Угол дифракции зависит от длины волны, используемой в эксперименте. Согласно уравнению Брэгга, углы дифракции определенной группы граней кристалла с расстоянием d будут разными, а углы дифракции каждой группы граней кристалла с расстоянием между ними будут регулярно меняться.
Поэтому положение дифракционного пика на дифракционной картине, полученной методомРентгеновские трубкис разными мишенями неодинаково, а изменение положения дифракционного пика закономерно. Кристалл имеет свой набор значений d, которые присущи его строению и могут быть использованы как характеристический параметр кристаллического вещества.