Спектр рентгеновской дифракции в основном анализирует кристаллическое состояние и микроструктуру материала, поскольку длина волны Рентгеновскийаналогичен постоянной решетки кристалла, облученного на кристаллическом материале, а дифракционная картина, полученная в результате анализа, может определить атомную структуру и тип кристалла. Есть два рентгеновских дифракционных измерения длякристаллический анализ.
1.Рентгеноспектральный метод дифракции,Рентгеновский дифрактометрБазовая конструкция состоит из трех частей: источник рентгеновского излучения, гониометр, детектор.
Обычно источник рентгеновского излучения создается путем воздействия электронного луча на медную мишень. Ка-характеристика рентгеновского излучения измеряется одним частотным селектором. Оптическая длина волны Cu-КаХ составляет 1,542 А, что приводит кДифракция рентгеновского излученияспектр. Возьмите дифракционную картину монокристалла, как показано на рисунке справа. Направление плоскости продукта (400) получается на основе угла дифракционного гребня по сравнению со стандартной диаграммой дифракции кристаллов порошка. Чем сильнее интенсивность гребня и чем уже ширина половинной высоты, тем лучше характеристики продукта.
2. Метод Лауэ обратного отражения рентгеновских лучей.
Рентгеновское отражение методом Лауэ представляет собой спектр, полученный с помощьюРентгеновское облучение кристаллов. Рентгеновское облучение фиксированной одиночной кремниевой пластины будет вызывать явление дифракции под определенными углами в соответствии с законом Брэгга, как показано на рисунке слева, а дифракционная картина (100) монокристаллического отражения Лауэ показана на рисунке ниже. верно. Этот метод можно использовать для определения направления кристалла монокристалла.
