1. Дифракция на кристаллической решетке.
Для рентгеновских лучей кристалл эквивалентен трехмерной решетке. При облучении тела рентгеновскими лучами каждый атом рассеивает рентгеновские лучи, а рассеянныеРентгеновские лучикаждого атома мешают друг другу. При соблюдении определенных условий возникает дифракция. Рисунок: Условием дифракции является то, что разность оптических путей между двумя слоями кратна длине волны.
Кристалл имеет разные грани кристалла, а разные грани продукта имеют разное расстояние между гранями продукта, как показано на рисунках d1 и d2d3, и их соответствующие углы съемки различны. Интенсивность огня разная. Кристаллы разные, атомы расположены по-разному, состав разный, и дифракцияотличается. Реальный кристалл представляет собой трехмерный массив точек, и дифракция также генерируется в трехмерном пространстве.
2. Дифракция поликристаллов, дифракционная стопка.
Положение плоскости (k) зерна точно соответствует формуле Брэгга, что приводит к дифракции. Рисунок 1
Поликристаллы представляют собой агрегаты очень многих мелких зерен. Если ориентация каждого зерна распределена случайным образом, это эквивалентно любому вращению поверхности кристалла вокруг падающего зерна.Рентгеновский лучна рисунке выше. Затем, когда рентгеновские лучи облучаются на поликристалл, на конической поверхности на рисунке генерируются дифракционные линии. фигура 2
Если детектор вращается вдоль экватора, эту дифракционную линию можно обнаружить, повернув его на угол 20°. Рисунок 3
Рисунок 1 фигура 2 Рисунок 3
Рентгеновский монокристаллический дифрактометр Рентгенокристаллический анализатор
