Продукты

Рекомендуемые продукты

  • Дифрактометр
    Дифрактометр
    1. Точность дифрактометра высока. 2. Дифрактометр имеет широкий спектр применения. 3. Дифрактометр прост в эксплуатации, удобен и эффективен.
    Более
  • Рентгенодифракционный анализ монокристалла
    Рентгенодифракционный анализ монокристалла
    1. В установке для получения монокристаллов используется технология управления на основе ПЛК. 2. Модульная конструкция, аксессуары подключаются по принципу «подключи и работай». 3. Электронное блокировочное оборудование для дверей с двойной защитой. 4. Монокристаллическая рентгеновская трубка: можно выбрать различные мишени, такие как Cu, Mo и т. д. 5. В монокристалле используется четырехкруговая концентрическая технология, обеспечивающая неизменность центра гониометра.
    Более
  • Рентгеновский кристаллоанализатор серии
    Рентгеновский кристаллоанализатор серии
    1. Рентгеновский прибор прост в эксплуатации и быстро обнаруживает дефекты. 2. Рентгеновский прибор точен и надежен, обладает превосходными характеристиками. 3. Рентгеновский прибор оснащен различными функциональными принадлежностями для удовлетворения потребностей в различных целях тестирования.
    Более
  • Двумерный рентгеновский дифрактометр
    Двумерный рентгеновский дифрактометр
    Преимущества: Плавная регулировка глубины проникновения рентгеновского излучения Возможность наблюдать распределение кристаллических плоскостей с различной ориентацией. Анализ распределения ориентации в образцах, таких как волокна, тонкие пленки и порошки. Исследование структурных характеристик, таких как искажение кристаллической решетки и размер кристаллитов.
    Более

связаться с нами

Технология неразрушающего контроля - рентгеновская дифракция

2024-06-21

В 1895 году немецкий физик В.К. Рентген первым открыл существование рентгеновских лучей, поэтому рентгеновские лучи еще называют рентгеновскими лучами. Суть рентгеновского излучения – это своего рода электромагнитная волна с очень короткой длиной волны (около 10-8 ~ 10-12 м) и большой энергией, обладающая корпускулярно-волновым дуализмом.

X-ray

Поскольку рентгеновские лучи обладают огромной энергией, когда они попадают в кристалл, атомы в кристалле будут вынуждены совершать периодическое движение под действием рентгеновского излучения.Рентгеновский, так что вторичная волна будет излучаться наружу в единице атомного шара, а частота волны будет соответствовать падающему рентгеновскому лучу, и этот процесс становится рассеянием рентгеновских лучей.

X-ray diffraction

Для аморфных материалов, поскольку в кристаллической структуре нет дальнего порядка расположения атомов, существует только ближний порядок в нескольких атомных диапазонах, поэтомуДифракция рентгеновского излучения Рисунок аморфных материалов представляет собой некоторую диффузную мантию. Однако для кристаллических материалов, расположение атомов которых давно упорядочено в трехмерном пространстве, на картине дифракции рентгеновских лучей видны пики усиления только в определенных местах. 


Вообще говоря, характеристики дифракционной картины можно рассматривать как состоящие из двух аспектов: 

1. закон распределениядифракциялиния в пространстве, которая определяется размером, формой и ориентацией клетки; 2. Интенсивность дифракционного луча – зависит от рода атомов и их положения в ячейке.





Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)

top