Продукты

Рекомендуемые продукты

  • Дифрактометр
    Дифрактометр
    1. Точность дифрактометра высока. 2. Дифрактометр имеет широкий спектр применения. 3. Дифрактометр прост в эксплуатации, удобен и эффективен.
    Более
  • Рентгенодифракционный анализ монокристалла
    Рентгенодифракционный анализ монокристалла
    1. В установке для получения монокристаллов используется технология управления на основе ПЛК. 2. Модульная конструкция, аксессуары подключаются по принципу «подключи и работай». 3. Электронное блокировочное оборудование для дверей с двойной защитой. 4. Монокристаллическая рентгеновская трубка: можно выбрать различные мишени, такие как Cu, Mo и т. д. 5. В монокристалле используется четырехкруговая концентрическая технология, обеспечивающая неизменность центра гониометра.
    Более
  • Рентгеновский кристаллоанализатор серии
    Рентгеновский кристаллоанализатор серии
    1. Рентгеновский прибор прост в эксплуатации и быстро обнаруживает дефекты. 2. Рентгеновский прибор точен и надежен, обладает превосходными характеристиками. 3. Рентгеновский прибор оснащен различными функциональными принадлежностями для удовлетворения потребностей в различных целях тестирования.
    Более
  • Двумерный рентгеновский дифрактометр
    Двумерный рентгеновский дифрактометр
    Преимущества: Плавная регулировка глубины проникновения рентгеновского излучения Возможность наблюдать распределение кристаллических плоскостей с различной ориентацией. Анализ распределения ориентации в образцах, таких как волокна, тонкие пленки и порошки. Исследование структурных характеристик, таких как искажение кристаллической решетки и размер кристаллитов.
    Более

связаться с нами

Остаточное напряжение анализировали методом рентгеноструктурный анализ.

2024-03-27

Остаточные напряжения оказывают большое влияние на стабильность размеров, устойчивость к коррозии под напряжением, усталостную прочность, фазовый переход и другие свойства материалов и компонентов. Его измерение вызвало широкую озабоченность в научных кругах и промышленности.

X-ray diffraction

Основной принципДифракция рентгеновского излучения измерение остаточного напряжения основано на измерении отклонения угла дифракции, получении деформации и последующем расчете остаточного напряжения с помощью упругой механики.


В ненапряженном состояниидифракцияУгол 2θ не меняется при изменении азимута ψкристалллицо. При наличии остаточного напряжения в образце расстояние между гранями кристалла изменится. Когда происходит дифракция Брэгга, дифракционный пик также будет перемещаться, а расстояние перемещения связано с напряжением.

diffraction

В состоянии растягивающего напряжения, чем больше азимут кристаллической плоскости ψ, тем больше расстояние между кристаллическими плоскостями d и тем меньшедифракцияУгол 2θ по закону Брэгга. Напротив, в состоянии сжимающего напряжения, чем больше азимут грани кристалла ψ, тем меньше расстояние между гранями кристалла и, соответственно, больше угол дифракции 2θ.

crystal

Согласно закону Брэгга и теории упругости, можно вывести:

X-ray diffraction

Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)

top