Тонкая структура рентгеновского поглощения(XAFS), также называемая рентгеновской абсорбционной спектроскопией (XAS). Это мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов на основе источника синхротронного излучения и широко используется в горячих областях, таких как катализ, энергетика и нано.
XAFSСпектр состоит из двух основных частей: ближней структуры рентгеновского поглощения (КСАНЕС) и расширенной тонкой структуры рентгеновского поглощения (EXAFS).
ЭКСАФС: Диапазон энергий составляет от 50 до 1000 эВ за краем поглощения, что происходит отРентгеновскийвозбуждение
Внутренний слой фотоэлектронов возникает в результате эффекта рассеяния одиночных электронов между окружающим атомом и поглощающим атомом.
КСАНЕС: Диапазон от примерно 10 эВ до края поглощения до примерно 50 эВ после края поглощения, в основном от
Рентгеновские лучи. Многократное рассеяние одиночных электронов между окружающими и поглощающими атомами возбужденными фотоэлектронами внутренней оболочки.
Область применения:
Промышленный катализ, материалы для хранения энергии, наноматериалы, экологическая токсикология, а также анализ качества, анализ тяжелых элементов и т. д.
