Когда графитовые материалы используются в материалах отрицательных электродов литиевых батарей, помимо анализа и определения содержания его элементов, размера частиц и гранулометрического состава, существует очень важный показатель, по которому необходимо измерить степень его графитизации.
Наиболее распространенным материалом анода в литий-ионных батареях является кристаллический графитоподобный углеродный материал со слоистой структурой.
Дифракция рентгеновского излученияявляется стандартным методом определения кристаллической структуры, поэтому его также можно использовать для измерения степени графитизации графитовых анодных материалов.
После изготовления графитового электродного листа ориентация (ориентация) структуры графитового слоя также оказывает большое влияние на миграцию ионов лития.
Метод рентгеновской дифракции также используется для проверки ориентации графитовых электродов. При проведении исследования дифракционной картины на образце электродной пластины, расположенном горизонтально, дифракционный сигнал кристаллической плоскости (110) может быть собран от графита, слоистая структура которого перпендикулярна электродной пластине, идифракциясигнал кристаллической плоскости (002) и (004) исходит от графита, структура слоев которого параллельна электродной пластине. Ориентацию графитового электрода можно описать как отношение интенсивности дифракционного пика (002) или (004) (или интегральной площади) к интенсивности дифракционного пика (110).