Рентгеноструктурный анализ поликристаллических образцов:
При облучении образца рентгеновскими лучами обычные детекторы используют канал для получения данных. Усовершенствованные одномерные матричные детекторы могут одновременно получать данные с 640 каналов, тем самым увеличивая скорость тестирования более чем в десять раз.





