Обычная рентгеновская дифракция полимеров
Обычные рентгеновские лучи часто используются для характеристики кристалличности полимера или информации о равенстве материалов. кристалличностьПолимера является структурным параметром, тесно связанным с его физическими свойствами. Иногда определить причину недостаточной жесткости, трещин, белизны и других дефектов удается путем оценки кристалличности. Метод измерения кристалличности поДифракция рентгеновского излученияописана подгонка полного спектра и приведены некоторые примеры.
Отношение площади кристаллического дифракционного пика к общей площади рассеянного сигнала
Рентгенограмма ПП-ПП и результаты расчета кристалличности путем разделения кристаллических и аморфных пиков методом полного спектра.
Полимер 2D/рентгеновская дифракция
В случае полимерных материалов их добавляют в волокна, листы или другие формы. Разница в методе обработки или технологии обработки приведет к большой разнице в состоянии и ориентации кристаллизации. Обычный рентгеноструктурный анализ не может охарактеризовать все структурные особенности. Режим передачи 2D-детектора (рентгеноструктурный анализ) предоставляет интуитивно понятную и полную структурную информацию о полимерных материалах. Далее образцы полипропилена разного состояния были протестированы двумерным методом.Рентгеновский дифрактометр, который в полной мере продемонстрировал преимущества двумерной дифракции при анализе полимеров.
Двумерная рентгенограмма образца ПП ПП1# – аморфное состояние ПП2# – неориентированное полукристаллическое состояние
Анализ ориентации
Пики (040) образцов ПП3# существуют только в двух направлениях на двумерной карте. Интегрируя пик (040) образца с 2theta, можно получить азимутальную диаграмму интенсивности пика (040), а ориентацию можно дополнительно рассчитать, используя полувысоту и ширину пика азимутальной диаграммы.
