Продукты

Рекомендуемые продукты

  • Дифрактометр
    Дифрактометр
    1. Точность дифрактометра высока. 2. Дифрактометр имеет широкий спектр применения. 3. Дифрактометр прост в эксплуатации, удобен и эффективен.
    Более
  • Рентгенодифракционный анализ монокристалла
    Рентгенодифракционный анализ монокристалла
    1. В установке для получения монокристаллов используется технология управления на основе ПЛК. 2. Модульная конструкция, аксессуары подключаются по принципу «подключи и работай». 3. Электронное блокировочное оборудование для дверей с двойной защитой. 4. Монокристаллическая рентгеновская трубка: можно выбрать различные мишени, такие как Cu, Mo и т. д. 5. В монокристалле используется четырехкруговая концентрическая технология, обеспечивающая неизменность центра гониометра.
    Более
  • Рентгеновский кристаллоанализатор серии
    Рентгеновский кристаллоанализатор серии
    1. Рентгеновский прибор прост в эксплуатации и быстро обнаруживает дефекты. 2. Рентгеновский прибор точен и надежен, обладает превосходными характеристиками. 3. Рентгеновский прибор имеет различные функциональные принадлежности для удовлетворения потребностей в различных целях тестирования.
    Более
  • Порошковый дифрактометр
    Порошковый дифрактометр
    1. Тип детектора: Матричный детектор или СДД-детектор; 2. Автоматическое вычисление управления ПЛК, преобразование режима интеграции, ПЛК автоматически выполняет ПХА, коррекцию времени простоя 3. Тип измерения образца: порошкообразный образец, жидкий образец, образец в расплавленном состоянии, вязкий образец, сыпучий порошок, сыпучий твердый образец 4. Доступен с различными принадлежностями для дифрактометра. 5.Максимальная выходная мощность порошка: 3 кВт
    Более

связаться с нами

Геометрия рентгеновской дифракции

2024-03-06

Использование рентгеновских лучей для изучения структуры кристаллов главным образом посредствомДифракция рентгеновского излученияявление в кристалле. Явление дифракции рентгеновских лучей в кристалле по существу является результатом интерференции между атомами и рентгеновскими лучами, когда рентгеновские лучи направляются на объект. Каждый тип кристалла дает свою характерную дифракционную картину, которая отражает распределение атомов внутри кристалла. Мы можем анализировать различные проблемы внутренней структуры кристалла с помощью явления дифракции, чтобы определить тип вещества, а также содержание вещества.


Уравнение Лауэ — это набор уравнений, выведенных из геометрических принциповдифракция и особенности периодического расположения кристаллов в трехмерном пространстве.

X-ray diffraction

Как видно из рисунка, когдаРентгеновскийпроецируется на трехмерный кристалл в направлении S0, три дифракционных кольца имеют единственную общую точку пересечения, а направление дифракции - от начала координат до направления S, указанного точкой пересечения. Следовательно, сигнал дифракции может быть получен под определенным углом после поворота детектора, что может быть отражено в характеристическом дифракционном спектре.

diffraction

Закон Брэгга

Считается, что кристалл состоит из атомных плоскостей, каждая из которых излучает рассеянный свет во всех направлениях на той же длине волны, что и падающий свет.

X-ray

1. Не все грани кристалла могут вызывать дифракцию. Грань кристалла может вызывать несколько стадий дифракции.

2. Когда длина волны постоянна, угол дифракции зависит только от размера ячейки и не зависит от конкретного состава кристалла.


Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)

top