Продукты

Рекомендуемые продукты

  • Дифрактометр
    Дифрактометр
    1. Точность дифрактометра высока. 2. Дифрактометр имеет широкий спектр применения. 3. Дифрактометр прост в эксплуатации, удобен и эффективен.
    Более
  • Рентгенодифракционный анализ монокристалла
    Рентгенодифракционный анализ монокристалла
    1. В установке для получения монокристаллов используется технология управления на основе ПЛК. 2. Модульная конструкция, аксессуары подключаются по принципу «подключи и работай». 3. Электронное блокировочное оборудование для дверей с двойной защитой. 4. Монокристаллическая рентгеновская трубка: можно выбрать различные мишени, такие как Cu, Mo и т. д. 5. В монокристалле используется четырехкруговая концентрическая технология, обеспечивающая неизменность центра гониометра.
    Более
  • Рентгеновский кристаллоанализатор серии
    Рентгеновский кристаллоанализатор серии
    1. Рентгеновский прибор прост в эксплуатации и быстро обнаруживает дефекты. 2. Рентгеновский прибор точен и надежен, обладает превосходными характеристиками. 3. Рентгеновский прибор оснащен различными функциональными принадлежностями для удовлетворения потребностей в различных целях тестирования.
    Более
  • Двумерный рентгеновский дифрактометр
    Двумерный рентгеновский дифрактометр
    Преимущества: Плавная регулировка глубины проникновения рентгеновского излучения Возможность наблюдать распределение кристаллических плоскостей с различной ориентацией. Анализ распределения ориентации в образцах, таких как волокна, тонкие пленки и порошки. Исследование структурных характеристик, таких как искажение кристаллической решетки и размер кристаллитов.
    Более

связаться с нами

Данные РФА были использованы для расчета размера зерен и плотности дислокаций.

2024-02-23

1. Расчет размера зерна:

Размер зерна – это мера размера зерна в материале. Размер зерна можно рассчитать по формуле Шеррера. Формула основана на соотношении ширины полупикадифракцияпик и размер зерна. Размер зерна можно рассчитать путем измерения ширины полупика дифракционного пика.

Обычное выражение формулы Шеррера: D = kλ /(βcosθ), в котором значение константы K связано с определением β, когда β представляет собой половину ширины и высоты, K составляет 0,89; Когда β — интегральная ширина, K равен 1,0. Полученные данные представлены на рисунке:

diffraction

В это время соответствующий наклон представляет собой искажение решетки, отображаемое материалом. Видно, что искажение решетки, соответствующее кривой 1, составляет около 0,016, а искажение решетки, соответствующее кривой 2, составляет около 0,008. Кроме того, возьмите данные пересечения для расчета размера зерна материала:

materials

2.Расчет плотности дислокаций:

Дислокация – распространенный дефект кристаллов.материалы,а плотность дислокаций можно оценить по формуле Шеррера. Следующая формула основана на взаимосвязи между силой дифракционного пика и плотностью дислокаций и рассчитывает плотность дислокаций материала путем измерения силы дифракционного пика.

​XRD

Для аморфных материалов необходимо иметь дело со следующей формулой:

diffraction

рентгеноструктурный анализДанные предоставляют нам массу информации при изучении свойств материалов. Рассчитав размер зерна, искажение решетки и плотность дислокаций, можно лучше понять структуру и свойства материала.


Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)

top