Многофункциональная интегрированная измерительная приставка используется для анализа пленок на платах, блоках и подложках и может выполнять такие испытания, как определение кристаллической фазы, ориентации, текстуры, напряжения и плоскостной структуры тонких пленок. Функциональные характеристики многофункциональных интегрированных измерительных принадлежностей: Выполнить тестирование полярной диаграммы с использованием методов пропускания или отражения; Стресс-тестирование может проводиться с использованием метода параллельного наклона или метода того же наклона; Испытание тонких пленок (вращение образцов в плоскости) Области применения многофункциональных интегрированных измерительных принадлежностей: Оценка сборных металлических конструкций, таких как прокатные листы; Оценка ориентации керамики; Оценка приоритетной ориентации кристаллов в тонкопленочных образцах; Испытания на остаточные напряжения различных металлических и керамических материалов (оценка износостойкости, стойкости к резанию и т.д.); Испытание на остаточное напряжение многослойных пленок (оценка отслаивания пленки и т.п.); Анализ поверхностного окисления и нитридных пленок на высокотемпературных сверхпроводящих материалах, таких как тонкие пленки и металлические пластины; Стекло Си、 Анализ многослойных пленок на металлических подложках (магнитные тонкие пленки, пленки для упрочнения поверхности металлов и т. д.); Анализ гальванических материалов, таких как макромолекулярные материалы, бумага и линзы. Технические характеристики многофункциональных интегрированных измерительных принадлежностей: Минимальное расстояние шага оси альфа (наклона): 0,001 °/шаг, динамический диапазон: 45°-90° Минимальный шаг шага оси β (вращение): 0,001 °/шаг, динамический диапазон: 0 ° -360 ° Минимальное расстояние шага по оси z: 0,001 °/шаг, динамический диапазон: 0-10 мм Размер образца: максимальный диаметр 100 мм, регулируемая толщина

Рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов, широко используемый в таких популярных областях, как катализ, энергетика и нанотехнологии. Основной принцип работы спектрометра тонкой структуры поглощения рентгеновских лучей (XAFS) заключается в том, что когда энергия рентгеновских лучей резонирует с энергией внутренней электронной оболочки элемента в образце, резкое увеличение электронов возбуждается, образуя непрерывный спектр, который называется краем поглощения. Вблизи края поглощения, по мере увеличения энергии рентгеновских лучей, скорость поглощения монотонно уменьшается с увеличением глубины проникновения рентгеновских лучей. Когда спектр выходит за пределы определенного края, можно наблюдать тонкие структуры, где области поглощения рентгеновских лучей вблизи краевых структур (XANES) появляются, как только пики и плечи шириной, превышающей 20-30 электрон-вольт, проходят через начальную точку края. Тонкая структура, расположенная на высокоэнергетической стороне края, где энергия затухает до нескольких сотен электрон-вольт, называется тонкой структурой поглощения рентгеновских лучей (XAFS). Основными характеристиками рентгеновского абсорбционного тонкоструктурного спектрометра (XAFS) являются: Чувствительность к ближнему порядку: зависит от ближнего порядка и не зависит от дальнего порядка, что позволяет измерять широкий спектр образцов. Может использоваться для аморфных, жидких, расплавленных, активных центров катализаторов, металлических белков и т. д., а также для структурных исследований примесных атомов в кристаллах. Сильные элементные характеристики: Край поглощения рентгеновских лучей имеет элементные характеристики, и для атомов различных элементов в образце можно изучать структуру атомных соседей различных элементов в одном и том же соединении, регулируя энергию падающего рентгеновского излучения. Высокая чувствительность: метод флуоресценции можно использовать для измерения образцов элементов с концентрацией до одной миллионной. Комплексное получение структурной информации: возможность предоставления параметров, определяющих локальную структуру, таких как расстояние между поглощающими атомами и соседними атомами, количество и тип этих атомов, а также степень окисления поглощающих элементов. Подготовка образца проста: не требуется монокристалл, а в условиях эксперимента время сбора данных относительно короткое. При использовании синхротронного источника рентгеновского излучения для измерения спектральной линии обычно требуется всего несколько минут. Основными преимуществами рентгеновского абсорбционного тонкоструктурного спектрометра (XAFS) являются: Основное преимущество: продукт с самым высоким световым потоком Поток фотонов, превышающий 1000000 фотонов/сек/эВ, со спектральной эффективностью, в несколько раз превышающей другие продукты; Получение качества данных, эквивалентного синхротронному излучению Превосходная стабильность: Стабильность интенсивности монохроматического света источника света лучше 0,1%, а дрейф энергии при повторном сборе составляет менее 50 мэВ. Предел обнаружения 1%: Высокий световой поток, превосходная оптимизация оптического пути и превосходная стабильность источника света гарантируют возможность получения высококачественных данных EXAFS, даже если содержание измеряемого элемента составляет >1%. 4. Области применения рентгеновского абсорбционного тонкоструктурного спектрометра (XAFS): Область энергетики: например, исследования литиевых батарей и других материалов для вторичных батарей, исследования топливных элементов, исследования материалов для хранения водорода и т. д. XAFS можно использовать для определения концентрации, валентного состояния, координационной среды и динамических изменений атомов ядра во время циклов заряда-разряда и электрохимических реакций. Область катализа: используется для исследований катализа наночастиц, катализа отдельных атомов и т. д. Получите морфологию катализатора на носителе, форму взаимодействия с носителем и ее изменения в ходе каталитического процесса с помощью XAFS, а также соседние структуры ионов металлов с чрезвычайно низким содержанием. В области материаловедения рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) используется для характеристики различных материалов, изучения сложных систем и неупорядоченных структурных материалов, исследования радиоактивных изотопов, изучения связанных свойств поверхностных и интерфейсных материалов, а также изучения динамических изменений в материалах. В области геологии рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) может использоваться для анализа валентного состояния элементов рудных материалов при геологических исследованиях. Область экологии: КС может использоваться для анализа валентного состояния элементов Кр/Как и т. д. В области радиохимии рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) может использоваться для анализа валентного состояния элементов Се, U и т. д. Спектрометр тонкой структуры рентгеновского поглощения (XAFS) играет важную роль в современных научных исследованиях благодаря своему уникальному принципу работы, значительным характеристикам и широким областям применения. Он предоставляет людям мощные средства для более глубокого понимания микроструктуры и химического состояния вещества, способствуя развитию и прогрессу множества дисциплинарных областей.

Основное назначение переносной рентгеновской испытательной машины для сварки неразрушающий контроль заключается в проверке качества обработки и сварки материалов и компонентов, таких как корпуса судов, трубопроводы, сосуды высокого давления, котлы, самолеты, транспортные средства и мосты в таких промышленных секторах, как национальная оборона, судостроение, нефтяная, химическая, машиностроительная, аэрокосмическая и строительная промышленность, а также внутренних дефектов и собственного качества различных легких металлов, резины, керамики и т. д. Принцип действия и применение портативной рентгеновской испытательной машины для сварки неразрушающий контроль: Переносной рентгеновский сварочный испытательный аппарат неразрушающий контроль использует акустические, оптические, магнитные и электрические свойства материалов для обнаружения дефектов или неровностей в испытываемом объекте без повреждения или влияния на его производительность. Они предоставляют такую ​​информацию, как размер дефекта, местоположение, характер и количество. По сравнению с разрушающим контролем, он имеет следующие характеристики. Первый - неразрушающий, так как он не ставит под угрозу производительность обнаруженного объекта во время тестирования; Второй - всесторонний, так как обнаружение является неразрушающим, необходимо провести 100% всестороннее обнаружение испытываемого объекта, что не может быть достигнуто разрушающим контролем; Третий - всесторонний, и разрушающий контроль, как правило, применим только к испытанию сырья, такого как растяжение, сжатие, изгиб и т. д., обычно используемого в машиностроении. Разрушающий контроль проводится на производственном сырье, а для готовых изделий и используемых предметов разрушающий контроль не может быть проведен, если они не предназначены для дальнейшего использования. С другой стороны, он не наносит ущерба производительности испытываемого объекта. Таким образом, он может не только выполнять полное тестирование технологического процесса производства сырья, промежуточных процессов и даже готовой продукции, но и тестировать оборудование, находящееся в эксплуатации. Характеристики переносной рентгеновской испытательной машины для сварки неразрушающий контроль: Рентгеновский генератор имеет небольшой объем, заземленный анод и принудительное охлаждение вентилятором; ◆ Легкий, удобный для переноски и простой в эксплуатации; Работа и отдых в соотношении 1:1; Красивый внешний вид и разумная структура; ◆ Отсроченное воздействие для обеспечения безопасности оператора; Диапазон визуального контроля портативной рентгеновской сварочной испытательной машины неразрушающий контроль 1. Проверка поверхностных дефектов сварных швов. Проверка качества сварки, таких как поверхностные трещины, непровары и негерметичность сварного шва. 2. Проверка состояния. Проверьте поверхность на наличие трещин, отслоений, растяжений, царапин, вмятин, выступов, пятен, коррозии и других дефектов. 3. Проверка внутренней полости. При работе определенных изделий (например, насосов с червячной передачей, двигателей и т. д.) проведите эндоскопическое тестирование в соответствии с указанными техническими требованиями. 4. Проверка сборки. При наличии требований и потребностей используйте тот же 3D промышленный видеоэндоскоп для проверки качества сборки; После завершения сборки или определенного процесса проверьте каждый компонент. Соответствует ли положение сборки компонентов требованиям чертежей или технических спецификаций; Есть ли дефект сборки. 5. Проверка излишков товара. Проверьте наличие остатков мусора, посторонних предметов и другого мусора внутри полости продукта.

Рентгеновский облучатель ВБК-01 генерирует высокоэнергетические рентгеновские лучи для облучения клеток или мелких животных. Рентгеновский облучатель используется для различных фундаментальных и прикладных исследований. На протяжении всей истории использовались радиоактивные изотопные облучатели, которые требовали транспортировки образцов в основную установку облучения. Сегодня в лабораториях можно установить более компактный, безопасный, простой и недорогой рентгеновский облучатель для удобного и быстрого облучения клеток. Различные образцы можно напрямую облучать в лаборатории, не влияя на фертильность или безопасность. Рентгеновский облучатель прост в использовании для персонала без профессиональной подготовки в области рентгенологии, и не требуется дорогостоящих лицензий или затрат на безопасность или обслуживание источника излучения. Это устройство просто в эксплуатации, безопасно, надежно и экономически эффективно, и может заменить источники радиоактивных изотопов. 1. Принцип действия рентгеновского облучателя: Рентгеновская трубка в рентгеновском облучателе генерирует высокоэнергетические электроны, которые производят рентгеновские лучи при столкновении с целевым материалом (обычно вольфрамом). Ускорение электронов посредством высоковольтного электрического поля для получения достаточной энергии для генерации требуемой длины волны и интенсивности рентгеновского излучения. Затем рентгеновские лучи настраиваются и оптимизируются с помощью ряда коллиматоров, фильтров и других устройств и, наконец, облучают образец. Основными компонентами рентгеновского облучателя являются: Рентгеновский облучатель в основном включает рентгеновские трубки, генераторы высокого напряжения, схемы управления, системы охлаждения, устройства безопасности и помещения для образцов. Среди них рентгеновская трубка является основным компонентом, отвечающим за генерацию рентгеновских лучей; Генератор высокого напряжения обеспечивает необходимое высокое напряжение и ток для рентгеновской трубки; Схема управления используется для управления такими параметрами, как генерация, интенсивность и время облучения рентгеновских лучей; Система охлаждения гарантирует, что оборудование не будет повреждено из-за перегрева во время работы; Устройство безопасности обеспечивает безопасность операторов и среды использования. 3. Области применения рентгеновского облучателя: Рентгеновский облучатель может использоваться в области биологии: его можно использовать для исследований клеточных культур и ингибирования деления, индукции изменений генов, исследований стволовых клеток, облучения мелких животных, исследований туберкулезных клеток, исследований клеток крови, облучения при трансплантации костного мозга, изучения трансплантационного иммунитета, иммуносупрессивной терапии, исследований радиационной чувствительности, исследований повреждений ДНК и т. д. Рентгеновский облучатель может использоваться в медицинской сфере: при лечении опухолей он может использоваться для локального облучения места опухоли, уничтожения раковых клеток или подавления их роста; рентгеновский облучатель также может использоваться в качестве вспомогательного средства диагностики некоторых заболеваний, например, для определения состояния путем наблюдения за изменениями изображений тканей и органов с помощью рентгеновских лучей. Рентгеновский облучатель может использоваться в пищевой промышленности: его можно использовать для облучения пищевых продуктов, уничтожения микроорганизмов в пищевых продуктах посредством рентгеновского облучения, подавления активности ферментов, тем самым продлевая срок годности пищевых продуктов, сохраняя их первоначальный вкус и пищевую ценность. Рентгеновский облучатель может использоваться в промышленной сфере: его можно использовать для испытания и модификации свойств материалов, например, для сшивания полимерных материалов с целью повышения их прочности и стабильности; его также можно использовать для неразрушающего контроля для обнаружения дефектов и трещин внутри материалов. Подводя итог, можно сказать, что рентгеновский облучатель — это важное научное и промышленное устройство с широкими перспективами применения и ценностью.

Рентгеновский ориентатор кристаллов является незаменимым инструментом для точной обработки и изготовления кристаллических приборов. Рентгеновский ориентатор кристаллов использует принцип рентгеновской дифракции для точного и быстрого определения угла резки природных и искусственных монокристаллов (пьезоэлектрических кристаллов, оптических кристаллов, лазерных кристаллов, полупроводниковых кристаллов) и оснащен режущим станком для направленной резки вышеупомянутых кристаллов. Рентгеновский ориентатор кристаллов широко используется в исследовательской, обрабатывающей и производственной отраслях промышленности кристаллических материалов. 1. Принцип работы рентгеновского кристаллического ориентатора: Рентгеновский ориентатор кристаллов использует принцип рентгеновской дифракции для точного и быстрого определения угла резки природных и искусственных монокристаллов (пьезоэлектрических кристаллов, оптических кристаллов, лазерных кристаллов, полупроводниковых кристаллов). Оснащенный режущим станком, рентгеновский ориентатор кристаллов может использоваться для направленной резки вышеупомянутых кристаллов и является незаменимым инструментом для прецизионной обработки и изготовления кристаллических устройств. Рентгеновский ориентатор кристаллов имеет точность измерения ± 30 дюймов, с цифровым режимом отображения и меньшим показанием 10 дюймов. Может измерять образцы диаметром 1-30 килограммов и 2-8 дюймов. Отображение угла: цифровой режим, точность измерения ± 30 дюймов. 2. Характеристики рентгеновского кристаллического ориентатора: Простота эксплуатации, нет необходимости в профессиональных знаниях или профессиональных навыках. Угол цифрового дисплея легко наблюдать, и он снижает ошибки чтения. Монитор можно обнулить в любом положении для легкого отображения значений отклонения угла кристалла. Двойной измерительный прибор угла может работать одновременно, что повышает эффективность. Рентгеновский кристаллический ориентатор имеет специальный интегратор с пиковым усилением, что повышает точность обнаружения. Интеграция рентгеновской трубки и высоковольтного кабеля повышает надежность высокого напряжения. Высоковольтный детектор использует модуль высокого напряжения постоянного тока и плату образца вакуумного всасывания, что повышает точность и скорость измерения угла. Основными компонентами рентгеновского ориентатора кристаллов являются: Радиационная трубка: Обычно в качестве анода используется медная мишень, которая заземляется, а для охлаждения применяется принудительное воздушное охлаждение. Высоковольтный источник питания: обеспечивает стабильное высокое напряжение и ток для рентгеновских трубок и является одним из основных компонентов всей системы. Детектор: используется для приема дифрагированных рентгеновских фотонов и преобразования их в электрические сигналы для последующей обработки и анализа. Гониометр: используется для точного измерения угла поворота образцов кристаллов, тем самым определяя информацию об ориентации плоскости дифракции. Система обработки данных: обрабатывает, анализирует и сохраняет сигналы, выдаваемые детектором, для получения информации о структуре кристалла. 4. Области применения рентгеновского кристаллоориентатора: Материаловедение: используется для изучения кристаллических структур различных материалов, включая металлы, керамику, полупроводники и т. д. Геология: используется для определения типов минералов, анализа структуры горных пород и т. д. Химия: используется для изучения структуры и изменений молекулярных кристаллов. Физика: используется для исследования микроструктуры и физических свойств вещества. Подводя итог, можно сказать, что благодаря постоянному прогрессу и инновациям в области науки и техники, рентгеновского кристаллического ориентатора, предполагается, что в будущем в различных областях будет применяться все больше новых материалов и технологий, что будет способствовать непрерывному развитию человеческого общества.

Рентгеновский кристаллоанализатор серии ТДФ — это крупногабаритный аналитический прибор, используемый для изучения внутренней микроструктуры веществ. Он в основном используется для ориентации монокристаллов, дефектоскопии, определения параметров решетки, определения остаточных напряжений, изучения структуры пластин и стержней, изучения структуры неизвестных веществ и дислокаций монокристаллов. Рентгеновский кристаллоанализатор — это прецизионный прибор, использующий принцип рентгеновской дифракции для анализа и определения внутренней структуры и состава веществ. 1. Принцип работы рентгеновского кристаллоанализатора: Анализатор рентгеновских кристаллов основан на законе Брэгга, который гласит, что при облучении кристалла рентгеновскими лучами происходит дифракция под определенным углом, образуя дифракционные пятна или пики. Измеряя углы и интенсивности этих дифракций, можно сделать вывод о внутренней структуре и составе кристалла. 2. Составные части рентгеновского кристаллоанализатора: (1) Источник рентгеновского излучения рентгеновского кристаллического анализатора: устройство, генерирующее рентгеновские лучи, обычно рентгеновская трубка, состоящая из нити накала, мишенного материала и высоковольтного источника питания. Рентгеновская трубка рентгеновского кристалл-анализатора: Номинальная мощность: 2,4 кВт; Размер фокуса (мм2): Точечный фокус (1 × 1) Линейный фокус (1 × 10); Материалы мишени: Cu, Ко, Фе, Кр, Мо, W и т.д. Высоковольтный генератор рентгеновского кристаллоанализатора (управляется импортным ПЛК): Напряжение трубки: 10-60 кВ; Ток трубки: 2-60 мА; Стабильность напряжения и тока трубки ≤ ± 0,005%; Номинальная выходная мощность: 3 кВт. Высоковольтный кабель для рентгеновского кристаллического анализатора: Диэлектрическое напряжение ≥ 100 кВ; Длина: 2м. (2) Спектральный кристалл рентгеновского кристалл-анализатора: используется для разделения рентгеновских лучей с различными длинами волн, является ключевым компонентом для достижения спектрального разделения. (3) Детектор рентгеновского кристаллического анализатора: используется для обнаружения рентгеновских лучей, рассеянных образцом, и преобразования их в электрические сигналы для последующей обработки. (4) Прибор для измерения угла рентгеновского кристаллического анализатора: прибор, используемый для точного измерения угла дифракции, который является одним из важных компонентов, обеспечивающих точность измерений. (5) Система управления и обработки данных рентгеновского кристаллического анализатора: используется для управления всем процессом анализа, обработки и анализа собранных данных. Современные приборы обычно оснащены компьютерным программным обеспечением для упрощения процесса анализа данных. 3. Характеристики рентгеновского кристаллоанализатора: В рентгеновском кристаллическом анализаторе серии ТДФ используется вертикальная трубчатая гильза, и одновременно можно использовать четыре окна. Рентгеновский кристаллический анализатор серии ТДФ использует импортную технологию управления ПЛК с высокой точностью управления и хорошими характеристиками защиты от помех, что позволяет добиться надежной работы системы. ПЛК управляет высоковольтным переключателем, подъемом и имеет функцию автоматической тренировки рентгеновской трубки, эффективно продлевая срок службы рентгеновской трубки и прибора. 4. Области применения рентгеновского кристаллоанализатора Материаловедение: исследование кристаллической структуры, фазовых переходов, дефектов и т. д. материалов для оказания важной поддержки при разработке новых материалов. Химия: включает кристаллохимию, медицинскую химию и т. д., может использоваться для анализа структур соединений, изучения механизмов химических реакций и т. д. Биология: используется для структурного анализа биомолекул, разработки и скрининга лекарственных препаратов и т. д., имеет большое значение для понимания жизненных процессов и механизмов заболеваний. Наука об окружающей среде играет важную роль в разработке катализаторов, характеристике наноматериалов и анализе загрязняющих веществ. Геология: Идентификация минералов, исследование генезиса горных пород, геохронология и другие области исследований также полагаются на рентгеновские анализаторы кристаллов. Рентгеновский анализатор кристаллов является мощным и широко используемым аналитическим инструментом, который играет незаменимую роль во многих областях. С постоянным развитием технологий и непрерывным развитием рынка его производительность и область применения будут и дальше улучшаться и расширяться.

Настольный рентгеновский дифракционный прибор ТДМ-10 представляет собой прибор, используемый для анализа фазовой структуры материалов, который может быть оснащен сцинтилляционными/пропорциональными/линейными матричными детекторами. 1. Принцип работы настольного рентгеновского дифракционного прибора ТДМ-10: на основе закона Брэгга, когда монохроматический рентгеновский пучок падает на кристалл, если выполняется условие дифракции Брэгга (n λ=2dsin θ, где λ - длина волны рентгеновского луча, d - межплоскостное расстояние, а θ - угол падения), атомы или молекулы в кристалле будут рассеиваться и интерферировать с рентгеновским лучом, образуя определенную дифракционную картину. Измеряя интенсивность дифракции под разными углами, можно получить структурную информацию о кристалле. 2. Характеристики настольного рентгеновского дифракционного прибора ТДМ-10: Высокое разрешение настольного рентгеновского дифракционного прибора позволяет точно измерять кристаллическую структуру веществ, что имеет решающее значение для изучения сложных смесей или поиска поликристаллических и следовых фаз с низким содержанием. Неразрушающий анализ настольных рентгеновских дифракционных приборов: в процессе тестирования образец не повреждается, и его можно оставить в исходном состоянии для дальнейшего тестирования или использования. Эксплуатация настольного рентгеновского порошкового дифракционного оборудования проста: современное настольное рентгеновское порошковое дифракционное оборудование обычно имеет функции автоматизации и интеллекта, что делает эксплуатацию более удобной и снижает требования к профессиональным знаниям и навыкам оператора. Универсальность настольного рентгеновского порошкового дифракционного оборудования: рентгеновское порошковое дифракционное оборудование может выполнять различные виды анализа, такие как качественный и количественный фазовый анализ, анализ постоянной решетки, анализ напряжений и т. д. 3. Технические параметры настольного рентгеновского порошкового дифракционного комплекса ТДМ-10: Настольный рентгеновский дифракционный аппарат имеет небольшой объем; Высокочастотный и высоковольтный источник питания снижает общее энергопотребление аппарата; Можно быстро калибровать и тестировать образцы; Простое управление схемой, легко отлаживать и устанавливать; Точность измерения положения дифракционного пика составляет 0,001°; Детектор: сцинтилляционный, пропорциональный, линейный; Диапазон 2 θ:- 10°~150° Мощность: 600 Вт; Максимальное напряжение: 40 кВ; Максимальный ток: 15 мА; Рентгеновские трубки: гофрированные керамические трубки, металлокерамические трубки, стеклянные трубки. 4. Области применения настольного рентгеновского дифракционного аппарата ТДМ-10: Материаловедение: используется для изучения кристаллической структуры, фазового состава, размера зерна, кристалличности и т. д. металлов, керамики, полупроводников и других материалов, помогая материаловедам понимать свойства и характеристики материалов. В области химии рентгеновская дифракционная машина может использоваться в промышленности по производству катализаторов, цемента, фармацевтических препаратов и других продуктов для идентификации фаз в неизвестных образцах, а также для количественного анализа известных фаз в смешанных образцах. Геология: Проведение фазового анализа руд, горных пород и т. д. для определения их минерального состава и структуры. Науки об окружающей среде: используются для анализа минерального состава и форм загрязняющих веществ в образцах окружающей среды, таких как почва и отложения. Пищевая промышленность: обнаружение кристаллических компонентов, добавок и т. д. в продуктах питания. Настольный рентгеновский дифракционный аппарат ТДМ-10 представляет собой мощный аналитический прибор, имеющий важное прикладное значение в различных областях.

Высокомощный рентгеновский дифрактометр ТДМ-20 (настольный Рентгенодифракционный анализ) в основном используется для фазового анализа порошков, твердых веществ и подобных пастообразных материалов. Принцип рентгеновской дифракции может использоваться для качественного или количественного анализа, анализа кристаллической структуры и других поликристаллических материалов, таких как порошковые образцы и образцы металлов. Настольный Рентгенодифракционный анализ широко используется в таких отраслях, как промышленность, сельское хозяйство, национальная оборона, фармацевтика, минералы, безопасность пищевых продуктов, нефть, образование и научные исследования. 1. Основные характеристики настольного рентгеновского дифрактометра ТДМ-20 (настольный рентгеновский дифрактометр)： Загрузка нового высокопроизводительного матричного детектора значительно улучшила общую производительность устройства при небольшом размере и весе; Вся машина интегрирована в размер рабочего стола (обычно ≤ 1 м³), что экономит место и подходит для небольших лабораторий или учебных помещений; Рабочая мощность высокочастотного и высоковольтного источника питания может достигать 1600 Вт; Быстрый анализ, возможность быстрой калибровки и тестирования образцов; Благодаря использованию высокопроизводительных детекторов (например, двухмерных детекторов) и оптимизации оптического пути сканирование образцов может быть завершено за несколько минут; Простое управление схемой, легко отлаживать и устанавливать; Повторяемость угла может достигать 0,0001; Низкое энергопотребление и безопасность, использование маломощных рентгеновских трубок (например, ≤ 50 Вт), оснащенных многократной защитой от излучения, нет необходимости в специальных экранированных комнатах; Удобство для пользователя, оснащено программным обеспечением автоматизации, поддерживающим работу в один клик, визуализацию данных в реальном времени и сравнение со стандартными базами данных (например, МКДД PDF). 2. Типичные сценарии применения настольного рентгеновского дифрактометра ТДМ-20 (Настольный Рентгенодифракционный анализ): Материаловедение рентгеновского дифрактометра (настольный рентгеновский дифрактометр): быстрая идентификация кристаллической структуры и фазового состава (например, металлов, керамики, полимеров). Материаловедение рентгеновского дифрактометра (настольный рентгеновский дифрактометр): испытание кристаллической чистоты сырья или готовой продукции на промышленных объектах (например, фармацевтических препаратов и материалов для аккумуляторов). Материаловедение рентгеновского дифрактометра (настольный рентгеновский дифрактометр): экспериментальное обучение студентов, наглядно демонстрирующее принцип дифракции Брэгга. Материаловедение рентгеновского дифрактометра (настольный рентгеновский дифрактометр): анализ минерального состава культурных реликвий или предварительный скрининг полевых образцов. 3.Технические параметры настольного рентгеновского дифрактометра ТДМ-20 (настольный рентгеновский дифрактометр): Проект: диапазон параметров Источник рентгеновского излучения: мишень Cu (λ=1,54 Å), мишень Мо опционально. Напряжение/ток: 10-50 кВ/0,1-2 мА Диапазон измерения угла: 0-90 ° 2θ (некоторые модели могут быть расширены) Угловое разрешение:≤ 0,01 ° Тип детектора: одномерный линейный или двумерный поверхностный детектор Размер образца: порошок (миллиграммы), пленка или блок 4. Преимущества и ограничения настольного рентгеновского дифрактометра ТДМ-20 (настольный рентгеновский дифрактометр): Преимущества: низкая стоимость (примерно 1/3–1/2 стоимости большого Рентгенодифракционный анализ), простота обслуживания. Поддержка неразрушающего анализа и простой подготовки образцов (например, непосредственное внесение порошка). ограничения: Разрешение и чувствительность немного ниже, чем у высококлассных устройств, и могут не подходить для сверхтонкого структурного анализа. Испытания в экстремальных условиях (например, эксперименты на месте при высокой температуре/высоком давлении) обычно невозможны.

Рентгеновский дифрактометр ТД-3500 в основном используется для качественного и количественного анализа фаз, анализа кристаллической структуры, анализа структуры материалов, анализа ориентации кристаллов, определения макроскопического или микроскопического напряжения, определения размера зерна, определения кристалличности и т. д. образцов порошка, блока или пленки. Рентгеновский дифрактометр ТД-3500, произведенный компанией Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО., использует импортное управление Сименс ПЛК, что делает рентгеновский дифрактометр ТД-3500 обладающим характеристиками высокой точности, высокой достоверности, хорошей стабильности, длительного срока службы, простоты модернизации, простоты эксплуатации и интеллекта, а также может гибко адаптироваться к анализу испытаний и исследованиям в различных отраслях промышленности!   Рентгеновский дифрактометр ТД-3500 оснащен рентгеновским генератором (высокочастотный и высоковольтный твердотельный генератор, опционально генератор промышленной частоты), который имеет высокую степень автоматизации, чрезвычайно низкий уровень отказов, сильную помехоустойчивость, хорошую стабильность системы и может продлить срок службы всей машины. ПЛК и компьютерный интерфейс автоматически управляют открытием и закрытием светового затвора, автоматически управляют повышением и понижением давления в трубке и потоком в трубке, а также имеют функцию автоматического обучения рентгеновских трубок. Онлайн-мониторинг в реальном времени с использованием сенсорного экрана для отображения состояния прибора. Рентгеновский дифрактометр ТД-3500 использует усовершенствованный блок управления записью, схему управления ПЛК, усовершенствованную технологию управления ПЛК и сенсорный экран с истинным цветом для достижения взаимодействия человека и компьютера. Аппаратное обеспечение системы использует модульную концепцию проектирования, что значительно повышает помехоустойчивость системы и делает ее более стабильной. Благодаря использованию импортных схем управления Сименс ПЛК с высокой точностью и автоматизацией, система может работать стабильно в течение длительного времени без каких-либо сбоев. Система рентгеновского дифрактометра ТД-3500 имеет следующие преимущества по сравнению с микроконтроллерными схемами, используемыми другими компаниями: Простое управление схемой, простота отладки и установки; Благодаря модульной конструкции обслуживание системы очень простое, и пользователи могут ремонтировать и отлаживать ее самостоятельно без необходимости присутствия технических специалистов производителя; Использование усовершенствованного полноцветного сенсорного экрана для обеспечения взаимодействия человека с компьютером, с полными функциями защиты и очень удобным управлением, высокотрехмерный анимационный дизайн более гуманизирован, интуитивно понятен и удобен для операторов при использовании и оценке информации о неисправностях и т. д.; Значительно улучшена стабильность подсчета системы, тем самым повышая общую стабильность всей машины; Благодаря большой расширяемости ПЛК, можно легко расширять различные функциональные аксессуары без необходимости добавления каких-либо дополнительных аппаратных схем. Детектор рентгеновского дифрактометра ТД-3500 Пропорциональный детектор (ПД) или сцинтилляционный детектор (СД). Высокоточный прибор для измерения угла рентгеновского дифрактометра ТД-3500 Измерительный прибор серии ТД использует импортную высокоточную подшипниковую передачу, а управление движением дополняется высокоточной полностью замкнутой векторной сервосистемой привода. Интеллектуальный привод включает в себя 32-битный РИСК-микропроцессор и магнитный энкодер высокого разрешения, который может автоматически исправлять чрезвычайно малые ошибки положения движения, обеспечивая высокую точность и достоверность результатов измерения. Воспроизводимость угла может достигать 0,0001 градуса, а меньшие углы шага могут достигать 0,0001 градуса. Области применения рентгеновского дифрактометра ТД-3500: Материаловедение: используется для изучения ключевой информации, такой как кристаллическая структура, поведение фазовых переходов и текстура материалов. Химический анализ: может использоваться для качественного или количественного анализа органических, неорганических, полимерных соединений и других веществ. Геология: помогает людям понять формирование месторождений полезных ископаемых, эволюцию Земли и многое другое. Биофармацевтика: определение кристаллической структуры лекарственных препаратов, оптимизация лекарственных формул и повышение эффективности лекарственных препаратов. Рентгеновский дифрактометр — мощный аналитический инструмент, широко используемый во многих областях. Точно измеряя угол дифракции и интенсивность, он может предоставить подробную информацию о кристаллической структуре и составе материалов.

Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр -3700 является новым членом серии , оснащенным различными высокопроизводительными детекторами, такими как высокоскоростные одномерные матричные детекторы, двумерные детекторы, -детекторы и т. д. Он объединяет быстрый анализ, удобное управление и безопасность пользователя. Модульная аппаратная архитектура и настраиваемая программная система достигают идеального сочетания, делая его интенсивность отказов чрезвычайно низкой, антиинтерференционные характеристики хорошими и гарантируя долгосрочную стабильную работу высоковольтного источника питания. Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр -3700 поддерживает не только обычный метод сканирования дифракционных данных, но и метод сканирования данных пропускания. Разрешение режима пропускания намного выше, чем у режима дифракции, что подходит для структурного анализа и других областей. Режим дифракции имеет сильные дифракционные сигналы и больше подходит для рутинной идентификации фаз в лаборатории. Кроме того, в режиме пропускания образец порошка может находиться в следовых количествах, что подходит для сбора данных в случаях, когда размер образца относительно мал и не соответствует требованиям метода дифракции для подготовки образца. Матричный детектор полностью использует технологию смешанного счета фотонов, без шума, с быстрым сбором данных и более чем в десять раз большей скоростью, чем у сцинтилляционных детекторов. Он имеет превосходное энергетическое разрешение и может эффективно удалять эффекты флуоресценции. Многоканальные детекторы имеют более быстрое время считывания и достигают лучшего соотношения сигнал/шум. Система управления детектором с электронным стробированием и внешним запуском эффективно завершает синхронизацию системы. Принцип работы рентгеновского дифрактометра высокого разрешения -3700: Используя флуктуацию рентгеновских лучей, когда они облучают кристалл, атомы или ионы в кристалле действуют как рассеивающие центры, рассеивая рентгеновские лучи во всех направлениях. Из-за регулярности расположения атомов в кристаллах эти рассеянные волны интерферируют друг с другом и усиливают друг друга в определенных направлениях, образуя дифракцию. Измеряя угол дифракции и интенсивность дифракции, можно получить структурную информацию о кристалле. Основными особенностями рентгеновского дифрактометра высокого разрешения -3700 являются: (1) Простая в эксплуатации система сбора одним щелчком; (2) Модульная конструкция, подключаемые и работающие принадлежности, нет необходимости в калибровке; (3) Онлайн-мониторинг в режиме реального времени с использованием сенсорного экрана для отображения состояния прибора; (4) Электронное устройство блокировки свинцовой двери, двойная защита, обеспечивающая безопасность пользователя; (5) Высокочастотный и высоковольтный рентгеновский генератор со стабильной и надежной работой; (6) Усовершенствованный блок управления записью с высокой помехоустойчивостью. Высокая точность рентгеновского дифрактометра высокого разрешения -3700 позволяет проводить высокоточный анализ кристаллической структуры материалов, например, точно определять постоянные решетки, параметры ячейки и т. д. Точность измерения углов может достигать ±0,0001°. Высокое разрешение рентгеновского дифрактометра -3700 позволяет четко различать соседние дифракционные пики, точно анализировать дифракционную информацию различных кристаллических плоскостей для сложных кристаллических структур и выявлять микроструктурные характеристики материалов. Неразрушающий характер рентгеновского дифрактометра высокого разрешения -3700: он не повреждает образец в процессе тестирования, и образец можно сохранять в исходном состоянии для многократных испытаний, что особенно важно для ценных или труднодоступных образцов. Экспресс-анализ на рентгеновском дифрактометре высокого разрешения -3700: Современные рентгеновские дифрактометры высокого разрешения обладают быстрыми возможностями обнаружения и могут выполнять испытания образцов за короткий промежуток времени, что повышает эффективность работы. 3. Области применения рентгеновского дифрактометра высокого разрешения ТД-3700: Полупроводниковые материалы: используются для определения качества кристаллов полупроводниковых монокристаллических материалов и эпитаксиальных тонких пленок, анализа несоответствия кристаллической решетки, дефектов и другой информации, что помогает оптимизировать производительность полупроводниковых приборов. Сверхпроводящие материалы: изучение кристаллической структуры и процесса фазового перехода сверхпроводящих материалов с целью создания основы для оптимизации сверхпроводящих свойств. Наноматериалы: анализ размера зерна, кристаллической структуры, микроскопической деформации и т. д. наноматериалов помогает исследователям лучше понять их свойства и области применения. Другие области: Он также широко используется в исследованиях и контроле качества металлических материалов, керамических материалов, полимерных материалов, биоматериалов и других областях. Высокоточный рентгеновский дифрактометр с высоким разрешением — это высокоточный, неразрушающий и быстрый аналитический инструмент с важным прикладным значением во многих областях.