news

Сегодня давайте поделимся некоторыми знаниями о работе рентгеновского дифрактометра, в основном в следующих аспектах.

Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО. как новаторское предприятие в отечественной промышленности, с момента его создания с профессиональной командой, профессиональным духом, чтобы предоставлять клиентам передовые продукты и качественные услуги.

Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО. подчеркивает концепцию обслуживания клиентов «потребности клиентов как отправную точку» и укрепляет систему обслуживания клиентов. Наши услуги, от планирования, проектирования до внедрения, обеспечивают систематическое, разумное, эффективное и комплексное обслуживание, чтобы помочь пользователям освоить новые продукты, новые технологии и всесторонне повысить фактическую потребительскую ценность продуктов.

Рентгеновская дифракция (XRD) является основным методом изучения фазовой и кристаллической структуры вещества. Когда вещество (кристаллическое или некристаллическое) подвергается дифракционному анализу, вещество облучается рентгеновскими лучами для получения различных степеней явления дифракции, состав материала, тип кристалла, режим внутримолекулярной связи, молекулярная конфигурация, конформация и другие характеристики материала определяют специфическая дифрактограмма вещества.

Он использует принцип рентгеновского излучения для проведения качественного или количественного анализа, а также анализа кристаллической структуры поликристаллических материалов, таких как образцы порошков и образцы металлов.

Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО. — инновационное предприятие, специализирующееся на разработке, производстве и продаже рентгеновских продуктов и оборудования. С момента своего создания Даньдун Тонгда Технологии всегда уделяла внимание развитию новых технологий и новых концепций в мире и объединила группу высокопоставленных научно-исследовательских групп с богатым опытом в области исследований рентгеновского дифрактометра. .

Монокристаллический рентгеновский дифрактометр ТД-5000 в основном используется для определения трехмерной пространственной структуры и плотности электронного облака кристаллических веществ, таких как неорганические вещества и органические вещества, а также для анализа структуры специальных материалов, таких как двойники, неоднородные кристаллы и квазикристаллы. .