Крепление для тонкой пленки премиум-класса

Эта насадка для рентгеновских дифрактометров, предназначенная для анализа тонких пленок, обеспечивает высокоточный анализ пленок на подложках. Оптимизированная оптика подавляет помехи от подложки, усиливая слабые сигналы от пленки и обеспечивая получение надежных данных в диапазоне от нанометров до микрометров. Незаменима для исследований и разработок в области электроники, полупроводников и новых источников энергии.

2025/12/10

Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)

имя : This field is required

Телефон : This field is required

*почтовый ящик : Required and valid email address

компания : This field is required

*сообщение : This field is required

Политика конфиденциальности

Hовости