Параллельный оптический измерительный аксессуар для пленки — это специализированный инструмент для рентгеновского дифракционного анализа, который отфильтровывает больше рассеянных линий за счет увеличения длины решетчатой ​​пластины, тем самым уменьшая влияние сигнала подложки на результаты и усиливая интенсивность сигнала тонкой пленки. В области материаловедения параллельный оптический измерительный аксессуар для пленки обычно используется для изучения кристаллической структуры, поведения фазового перехода и напряженного состояния тонкопленочных материалов. С развитием нанотехнологий параллельный оптический измерительный аксессуар для пленки также широко используется при испытании толщины и анализе малоугловой дифракции наномногослойных пленок. Проектирование и производство параллельного оптического измерительного аксессуара для пленки преследуют высокую точность для удовлетворения требований научных исследований и промышленного производства к точности данных. Во время использования параллельный оптический измерительный аксессуар для пленки должен поддерживать высокую степень стабильности для обеспечения надежности результатов испытаний. С развитием технологий и промышленности постоянно растет спрос на высокоточные и высокостабильные аналитические приборы. Параллельные оптические пленочные измерительные принадлежности, как важный компонент, также испытывают устойчивый рост спроса на рынке. Для того чтобы удовлетворить рыночный спрос и улучшить эксплуатационные характеристики продукта, технология параллельных оптических пленочных измерительных принадлежностей постоянно совершенствуется и внедряет инновации. Например, улучшение материала и конструкции решетчатых пластин, оптимизация оптической системы и другие средства могут улучшить эффект фильтрации и возможности усиления сигнала. Подводя итог, можно сказать, что параллельные оптические пленочные измерительные принадлежности играют решающую роль в рентгеноструктурном анализе. С развитием технологий и промышленности перспективы их применения станут еще шире.

Волоконные аксессуары тестируются на их уникальную кристаллическую структуру с использованием метода рентгеновской дифракции (пропускания). Тестируйте ориентацию образца на основе таких данных, как кристалличность волокна и ширина половины пика. Волоконно-оптические аксессуары имеют широкий спектр применения в различных областях, включая материаловедение, биомедицину, химическую инженерию, нанотехнологии, геологоразведку, мониторинг окружающей среды и многое другое.

Рентгеновский монокристаллический дифрактометр -5000 в основном используется для определения трехмерной пространственной структуры и плотности электронного облака кристаллических веществ, таких как неорганические, органические и металлические комплексы, а также для анализа структуры специальных материалов, таких как двойникование, несоразмерные кристаллы, квазикристаллы и т. д. Определите точное трехмерное пространство (включая длину связи, угол связи, конфигурацию, конформацию и даже плотность электронов связи) новых молекул соединений (кристаллических) и фактическое расположение молекул в решетке; Монокристаллический рентгеновский дифрактометр может предоставить информацию о параметрах кристаллической ячейки, пространственной группе, молекулярной структуре кристалла, межмолекулярных водородных связях и слабых взаимодействиях, а также структурную информацию, такую ​​как молекулярная конфигурация и конформация. Монокристаллическая рентгеновская дифрактометрия широко используется в аналитических исследованиях в химической кристаллографии, молекулярной биологии, фармакологии, минералогии и материаловедении. Монокристаллический дифрактометр использует метод концентричности четырех окружностей, чтобы гарантировать, что центр инструмента для измерения угла остается неизменным независимо от вращения, достигая цели получения наиболее точных данных и получения более высокой целостности. Концентричность четырех окружностей является необходимым условием для обычного сканирования монокристалла. Технический персонал компании завершил установку и отладку зарубежного монокристаллического рентгеновского дифрактометра, и результаты испытаний в значительной степени удовлетворили иностранных пользователей. В то же время функциональность, стабильность и послепродажное обслуживание прибора получили единодушную похвалу от иностранных пользователей.

Различные кристаллические формы одного и того же лекарственного средства могут существенно отличаться по внешнему виду, растворимости, температуре плавления и т. д., что влияет на стабильность, производство, биодоступность и безопасность лекарственного средства.

Рентгеновская дифракция — это метод анализа структуры или состава образца путем освещения его монохроматическим рентгеновским лучом.

XAFS, как передовой метод определения характеристик для анализа локальной структуры материалов, может предоставить более точную информацию о координации атомной структуры в ближнем структурном диапазоне, чем рентгеновская дифракция кристаллов.

СБА-15 представляет собой разновидность мезопористого молекулярного сита, и его синтез является еще одной важной химической технологией, появившейся в последние годы.

Руководящий принцип инновационных хиральных лекарств четко предусматривает, что «прямым методом определения молекулярной конфигурации хиральных лекарств является рентгеноструктурный анализ монокристаллов».

В отличие от порошковой рентгенографии, которая широко используется на поздней стадии разработки и производства лекарств, технология дифракции рентгеновских лучей на монокристаллах играет важную роль на ранних и средних стадиях разработки лекарств.

Компания Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО. добилась не только больших успехов в производительности и конфигурации машины, но и создала полную систему послепродажного обслуживания, чтобы предоставить пользователям безупречный опыт.