Рентгеновский кристаллографический анализатор позволяет определять атомную структуру посредством дифракции по закону Брэгга. Незаменим для анализа металлов, полупроводников и биомолекул. Позволяет картировать кристаллическую структуру, дефекты и напряжения. Широко используется в НИОКР, контроле качества полупроводников, разработке лекарств и наноматериалов. Современные модели оснащены более быстрыми детекторами и более простым программным обеспечением. Это важнейший инструмент в науке и промышленности.

Точность рентгеноструктурного анализа кристаллов На результаты влияют: рентгеновская трубка и детектор (интенсивность, шум, разрешение), образец (однородность, дефекты, поверхность) и окружающая среда (термический дрейф, влажность, магнитные поля). Контроль этих переменных необходим для получения точных структурных данных.

Высокоточный рентгеноструктурный анализатор, позволяющий точно исследовать микроструктуру материалов. Усовершенствованное ПЛК-управление, модульная конструкция и высокая выходная мощность 5 кВт обеспечивают надежность для глобальных научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ, а также промышленного контроля качества.