дома
>

Тонкая структура рентгеновского поглощения

Тонкая структура рентгеновского поглощения (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов на основе источника света синхротронного излучения.

2024/03/18

Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)

имя : This field is required

Телефон : This field is required

*почтовый ящик : Required and valid email address

компания : This field is required

*сообщение : This field is required

Политика конфиденциальности

Hовости