Параллельный оптический измерительный аксессуар для пленки — это специализированный инструмент для рентгеновского дифракционного анализа, который отфильтровывает больше рассеянных линий за счет увеличения длины решетчатой ​​пластины, тем самым уменьшая влияние сигнала подложки на результаты и усиливая интенсивность сигнала тонкой пленки. В области материаловедения параллельный оптический измерительный аксессуар для пленки обычно используется для изучения кристаллической структуры, поведения фазового перехода и напряженного состояния тонкопленочных материалов. С развитием нанотехнологий параллельный оптический измерительный аксессуар для пленки также широко используется при испытании толщины и анализе малоугловой дифракции наномногослойных пленок. Проектирование и производство параллельного оптического измерительного аксессуара для пленки преследуют высокую точность для удовлетворения требований научных исследований и промышленного производства к точности данных. Во время использования параллельный оптический измерительный аксессуар для пленки должен поддерживать высокую степень стабильности для обеспечения надежности результатов испытаний. С развитием технологий и промышленности постоянно растет спрос на высокоточные и высокостабильные аналитические приборы. Параллельные оптические пленочные измерительные принадлежности, как важный компонент, также испытывают устойчивый рост спроса на рынке. Для того чтобы удовлетворить рыночный спрос и улучшить эксплуатационные характеристики продукта, технология параллельных оптических пленочных измерительных принадлежностей постоянно совершенствуется и внедряет инновации. Например, улучшение материала и конструкции решетчатых пластин, оптимизация оптической системы и другие средства могут улучшить эффект фильтрации и возможности усиления сигнала. Подводя итог, можно сказать, что параллельные оптические пленочные измерительные принадлежности играют решающую роль в рентгеноструктурном анализе. С развитием технологий и промышленности перспективы их применения станут еще шире.

Принадлежности для малоуглового дифрактометра — это специальные устройства, используемые в экспериментах по рентгеновской дифракции (Рентгенодифракционный анализ), в основном для измерения пиков дифракции в диапазоне малых углов для изучения микроструктуры и свойств материалов. Принадлежности для малоуглового дифрактометра — это специализированные устройства для рентгеновских дифрактометров, которые позволяют проводить точные измерения дифракции в диапазоне малых углов 2θ (обычно от 0° до 5° или ниже). Эта технология имеет большое значение для изучения наноструктур, мезопористых материалов, многослойных пленок и других материалов. Путем настройки соответствующих принадлежностей для малоуглового дифрактометра можно точно измерить толщину наномногослойных пленок. В целом, принадлежности для малоуглового дифрактометра являются незаменимым и важным компонентом рентгеновских дифрактометров с широкими перспективами применения в материаловедении, химии, физике и других областях.

Волоконные аксессуары тестируются на их уникальную кристаллическую структуру с использованием метода рентгеновской дифракции (пропускания). Тестируйте ориентацию образца на основе таких данных, как кристалличность волокна и ширина половины пика. Волоконно-оптические аксессуары имеют широкий спектр применения в различных областях, включая материаловедение, биомедицину, химическую инженерию, нанотехнологии, геологоразведку, мониторинг окружающей среды и многое другое.

Рентгеновский монокристаллический дифрактометр -5000 в основном используется для определения трехмерной пространственной структуры и плотности электронного облака кристаллических веществ, таких как неорганические, органические и металлические комплексы, а также для анализа структуры специальных материалов, таких как двойникование, несоразмерные кристаллы, квазикристаллы и т. д. Определите точное трехмерное пространство (включая длину связи, угол связи, конфигурацию, конформацию и даже плотность электронов связи) новых молекул соединений (кристаллических) и фактическое расположение молекул в решетке; Монокристаллический рентгеновский дифрактометр может предоставить информацию о параметрах кристаллической ячейки, пространственной группе, молекулярной структуре кристалла, межмолекулярных водородных связях и слабых взаимодействиях, а также структурную информацию, такую ​​как молекулярная конфигурация и конформация. Монокристаллическая рентгеновская дифрактометрия широко используется в аналитических исследованиях в химической кристаллографии, молекулярной биологии, фармакологии, минералогии и материаловедении. Монокристаллический дифрактометр использует метод концентричности четырех окружностей, чтобы гарантировать, что центр инструмента для измерения угла остается неизменным независимо от вращения, достигая цели получения наиболее точных данных и получения более высокой целостности. Концентричность четырех окружностей является необходимым условием для обычного сканирования монокристалла. Технический персонал компании завершил установку и отладку зарубежного монокристаллического рентгеновского дифрактометра, и результаты испытаний в значительной степени удовлетворили иностранных пользователей. В то же время функциональность, стабильность и послепродажное обслуживание прибора получили единодушную похвалу от иностранных пользователей.

Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр ТД-3700, обладающий всеми преимуществами рентгеновского дифрактометра ТД-3500, оснащен высокопроизводительным матричным детектором. По сравнению со сцинтилляционными детекторами или пропорциональными детекторами интенсивность расчета дифракции может быть увеличена в несколько десятков раз, а полные высокочувствительные, высокоразрешающие дифракционные картины и более высокая интенсивность счета могут быть получены за более короткий период выборки. Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр ТД-3700 поддерживает как обычные методы сканирования дифракционных данных, так и методы сканирования данных пропускания. Разрешение режима пропускания намного выше, чем у режима дифракции, что подходит для структурного анализа и других областей. Режим дифракции имеет сильные дифракционные сигналы и больше подходит для рутинной идентификации фаз в лаборатории. Кроме того, в режиме пропускания образец порошка может находиться в следовых количествах, что подходит для сбора данных в случаях, когда размер образца относительно мал и не соответствует требованиям метода дифракции для подготовки образца.

Рентгенограмма служит наиболее надежной основой для определения поликристаллических структур, и рентгенограмму часто рассматривают как «отпечаток пальца» кристаллических структур.

Методом рентгеновской дифракции охарактеризована кристаллическая структура пленок перовскита, модифицированных ионной жидкостью (ИЖ) БМИМАк при различной длительности отжига.

Рентгеновская дифракция — это быстрый, точный и эффективный метод неразрушающего контроля материалов. Как средство характеристики кристаллической структуры и правил ее изменения он широко используется во многих областях, таких как биология, медицина, керамика и так далее.

Свойства материалов часто определяются их фазовым составом, и РФА широко используется как один из основных способов фазового анализа.