ГИВАКСЫ — это метод определения внутренней микроструктуры образцов тонких пленок. Соответствующий размер структуры составляет от 10 нм до 1 мкм, поэтому он широко используется для характеристики кристаллизации внутри солнечных тонкопленочных элементов.

В данной работе был получен ряд твердых углеродных материалов с регулируемой структурой с использованием хитозана в качестве источника углерода и проанализирована связь между эволюцией структуры твердого углерода и свойствами хранения натрия.

Предложенный в этой статье метод снятия внутреннего стресса без дополнительной энергии обеспечивает экономичную и удобную новую стратегию улучшения динамики реакции батареи.

Рентгеновская дифракция (XRD) является основным методом изучения фазовой и кристаллической структуры вещества. Когда вещество (кристаллическое или некристаллическое) подвергается дифракционному анализу, вещество облучается рентгеновскими лучами для получения различных степеней явления дифракции, состав материала, тип кристалла, режим внутримолекулярной связи, молекулярная конфигурация, конформация и другие характеристики материала определяют специфическая дифрактограмма вещества.