Спектрометр XAFS компании Даньдун Тонгда: инструмент для анализа структуры материалов в лаборатории Точный анализ атомной структуры материалов вне зависимости от источников синхротронного излучения. Спектроскопия тонкой структуры рентгеновского поглощения (XAFS) является важным методом исследования локальной атомной и электронной структуры материалов и находит широкое применение в катализе, энергетических исследованиях и материаловедении. Традиционная методология XAFS в основном основана на использовании источников синхротронного излучения, что создаёт ряд сложностей, включая ограниченную доступность пучка, сложные процедуры применения и необходимость транспортировки образцов в крупные научные центры для анализа. Метод тонкой структуры поглощения рентгеновского излучения, разработанный компанией Даньдун Тонгда Технология Ко., ООО., призван интегрировать эти сложные аналитические возможности в стандартные лабораторные условия. Основные преимущества и практическая ценность Конструкция этого прибора решает несколько важнейших проблем, с которыми сталкиваются исследователи: Лабораторная альтернатива синхротронному излучению: устраняет традиционную зависимость от источников синхротронного излучения, позволяя исследователям эффективно проводить рутинные испытания XAFS в собственных лабораторных условиях, тем самым значительно повышая производительность исследований. Возможности проведения испытаний на месте: поддерживает интеграцию различных камер для образцов на месте (например, электрохимических, с переменной температурой), что позволяет в режиме реального времени отслеживать динамические изменения в локальной атомной структуре материала в моделируемых рабочих условиях (например, каталитических реакциях или процессах заряда/разряда аккумулятора), предоставляя ценную информацию о механизмах реакций. Автоматизированная работа для повышения эффективности: 18-позиционная башня для образцов обеспечивает автоматическую смену образцов, облегчая непрерывное автоматическое измерение нескольких образцов и работу без участия человека, тем самым оптимизируя скрининг партий образцов и расширенные эксперименты в место. Широкая область применения Спектрометр ТД-XAFS находит применение во многих областях, требующих детального исследования локальных структур материалов: Новые энергетические материалы: анализ изменений валентного состояния и структурной стабильности материалов электродов литий-ионных аккумуляторов в процессах заряда/разряда; исследование координационных сред на каталитически активных участках топливных элементов. Наука о катализе: особенно подходит для изучения точных координационных структур нанокатализаторов и одноатомных катализаторов, характеристик активных центров и их взаимодействий с материалами-носителями, даже при низких концентрациях металла (<1%). Материаловедение: исследование неупорядоченных структур, аморфных материалов, поверхностных/интерфейсных эффектов и динамических фазовых переходов. Науки об окружающей среде: анализ валентных состояний и координационных структур элементов тяжелых металлов в образцах окружающей среды (например, почве, воде), имеющий решающее значение для оценки токсичности и мобильности. Биологические макромолекулы: изучение электронных структур и геометрических конфигураций металлических активных центров в металлопротеинах и ферментах. Краткое содержание Спектрометр TD-XAFS компании Dandong Tongda представляет собой высокопроизводительную настольную испытательную платформу, разработанную для университетов, научно-исследовательских институтов и корпоративных научно-исследовательских центров. Он успешно интегрирует возможности синхротронного излучения в традиционные лаборатории, существенно снижая барьер доступности технологии XAFS. Прибор предоставляет исследователям удобные, эффективные и гибкие инструменты для анализа структуры микроскопических материалов, являясь практичным решением для учёных, изучающих микроскопический мир материи.

Рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов, широко используемый в таких популярных областях, как катализ, энергетика и нанотехнологии. Основной принцип работы спектрометра тонкой структуры поглощения рентгеновских лучей (XAFS) заключается в том, что когда энергия рентгеновских лучей резонирует с энергией внутренней электронной оболочки элемента в образце, резкое увеличение электронов возбуждается, образуя непрерывный спектр, который называется краем поглощения. Вблизи края поглощения, по мере увеличения энергии рентгеновских лучей, скорость поглощения монотонно уменьшается с увеличением глубины проникновения рентгеновских лучей. Когда спектр выходит за пределы определенного края, можно наблюдать тонкие структуры, где области поглощения рентгеновских лучей вблизи краевых структур (XANES) появляются, как только пики и плечи шириной, превышающей 20-30 электрон-вольт, проходят через начальную точку края. Тонкая структура, расположенная на высокоэнергетической стороне края, где энергия затухает до нескольких сотен электрон-вольт, называется тонкой структурой поглощения рентгеновских лучей (XAFS). Основными характеристиками рентгеновского абсорбционного тонкоструктурного спектрометра (XAFS) являются: Чувствительность к ближнему порядку: зависит от ближнего порядка и не зависит от дальнего порядка, что позволяет измерять широкий спектр образцов. Может использоваться для аморфных, жидких, расплавленных, активных центров катализаторов, металлических белков и т. д., а также для структурных исследований примесных атомов в кристаллах. Сильные элементные характеристики: Край поглощения рентгеновских лучей имеет элементные характеристики, и для атомов различных элементов в образце можно изучать структуру атомных соседей различных элементов в одном и том же соединении, регулируя энергию падающего рентгеновского излучения. Высокая чувствительность: метод флуоресценции можно использовать для измерения образцов элементов с концентрацией до одной миллионной. Комплексное получение структурной информации: возможность предоставления параметров, определяющих локальную структуру, таких как расстояние между поглощающими атомами и соседними атомами, количество и тип этих атомов, а также степень окисления поглощающих элементов. Подготовка образца проста: не требуется монокристалл, а в условиях эксперимента время сбора данных относительно короткое. При использовании синхротронного источника рентгеновского излучения для измерения спектральной линии обычно требуется всего несколько минут. Основными преимуществами рентгеновского абсорбционного тонкоструктурного спектрометра (XAFS) являются: Основное преимущество: продукт с самым высоким световым потоком Поток фотонов, превышающий 1000000 фотонов/сек/эВ, со спектральной эффективностью, в несколько раз превышающей другие продукты; Получение качества данных, эквивалентного синхротронному излучению Превосходная стабильность: Стабильность интенсивности монохроматического света источника света лучше 0,1%, а дрейф энергии при повторном сборе составляет менее 50 мэВ. Предел обнаружения 1%: Высокий световой поток, превосходная оптимизация оптического пути и превосходная стабильность источника света гарантируют возможность получения высококачественных данных EXAFS, даже если содержание измеряемого элемента составляет >1%. 4. Области применения рентгеновского абсорбционного тонкоструктурного спектрометра (XAFS): Область энергетики: например, исследования литиевых батарей и других материалов для вторичных батарей, исследования топливных элементов, исследования материалов для хранения водорода и т. д. XAFS можно использовать для определения концентрации, валентного состояния, координационной среды и динамических изменений атомов ядра во время циклов заряда-разряда и электрохимических реакций. Область катализа: используется для исследований катализа наночастиц, катализа отдельных атомов и т. д. Получите морфологию катализатора на носителе, форму взаимодействия с носителем и ее изменения в ходе каталитического процесса с помощью XAFS, а также соседние структуры ионов металлов с чрезвычайно низким содержанием. В области материаловедения рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) используется для характеристики различных материалов, изучения сложных систем и неупорядоченных структурных материалов, исследования радиоактивных изотопов, изучения связанных свойств поверхностных и интерфейсных материалов, а также изучения динамических изменений в материалах. В области геологии рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) может использоваться для анализа валентного состояния элементов рудных материалов при геологических исследованиях. Область экологии: КС может использоваться для анализа валентного состояния элементов Кр/Как и т. д. В области радиохимии рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) может использоваться для анализа валентного состояния элементов Се, U и т. д. Спектрометр тонкой структуры рентгеновского поглощения (XAFS) играет важную роль в современных научных исследованиях благодаря своему уникальному принципу работы, значительным характеристикам и широким областям применения. Он предоставляет людям мощные средства для более глубокого понимания микроструктуры и химического состояния вещества, способствуя развитию и прогрессу множества дисциплинарных областей.

Спектр тонкой структуры рентгеновского поглощения (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов, широко используемый в таких популярных областях, как катализ, энергетика и нанотехнологии. Принцип тонкой структуры рентгеновского абсорбционного спектра (XAFS): Тонкая структура поглощения рентгеновских лучей Спектр относится к спектрам высокого разрешения вблизи характерных краев атомных электронов, поглощающих рентгеновские лучи. Когда энергия рентгеновских лучей такая же, как энергия возбуждения электронов внутренней оболочки измеряемого элемента, они будут сильно поглощаться, что приведет к пределу поглощения (или краю поглощения). Вблизи края поглощения, из-за многократного рассеяния и других причин, коэффициент поглощения рентгеновских лучей будет демонстрировать колебательные явления, а именно тонкую структуру. 2. Основные преимущества рентгеновского абсорбционного тонкоструктурного спектра (XAFS): (1) Самый высокий световой поток продукта, с потоком фотонов, превышающим 1000000 фотонов/сек/эВ, и спектральной эффективностью, в несколько раз превышающей другие продукты; Получение качества данных, эквивалентного синхротронному излучению (2) Отличная стабильность, стабильность интенсивности монохроматического света источника света лучше 0,1%, а повторный дрейф энергии составляет менее 50 мэВ. (3) Предел обнаружения 1%, высокий световой поток, превосходная оптимизация оптического пути и превосходная стабильность источника света гарантируют, что высококачественные данные EXAFS могут быть получены даже при измеренном содержании элемента >1%. 3. Области применения XAFS: Промышленный катализ, материалы для хранения энергии, наноматериалы, экологическая токсикология, качественный анализ, анализ тяжелых элементов и т. д. 4. Основные особенности XAFS: (1) Короткий порядок: EXAFS зависит от ближних взаимодействий и не полагается на дальний порядок. XAFS можно использовать для изучения структуры неупорядоченных систем, таких как аморфные, жидкие, расплавленные и активные центры катализаторов. (2) Специфичность элементов: метод флуоресценции может быть использован для измерения образцов элементов с концентрацией вплоть до одной миллионной. Регулируя энергию падающего рентгеновского излучения, можно изучать соседние структуры атомов различных элементов в одном соединении. (3) Характеристики поляризации: поляризованные рентгеновские лучи можно использовать для измерения углов связи атомов и структур поверхности в ориентированных образцах. Спектр тонкой структуры рентгеновского поглощения, обладающий уникальными принципами, важными характеристиками и широкими областями применения, стал незаменимым и важным инструментом во многих областях, таких как материаловедение, каталитическая химия и энергетические исследования, обеспечивая надежную поддержку для углубленного изучения микроструктур материалов и электронных состояний.

В настоящее время XAFS применяется во многих областях, особенно в области исследования катализа и аккумуляторных материалов, и стал важным точным методом определения характеристик.

Тонкая структура рентгеновского поглощения (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов на основе источника света синхротронного излучения.