- дома
- >
Hовости
Спектрометр XAFS компании Даньдун Тонгда: инструмент для анализа структуры материалов в лаборатории Точный анализ атомной структуры материалов вне зависимости от источников синхротронного излучения. Спектроскопия тонкой структуры рентгеновского поглощения (XAFS) является важным методом исследования локальной атомной и электронной структуры материалов и находит широкое применение в катализе, энергетических исследованиях и материаловедении. Традиционная методология XAFS в основном основана на использовании источников синхротронного излучения, что создаёт ряд сложностей, включая ограниченную доступность пучка, сложные процедуры применения и необходимость транспортировки образцов в крупные научные центры для анализа. Метод тонкой структуры поглощения рентгеновского излучения, разработанный компанией Даньдун Тонгда Технология Ко., ООО., призван интегрировать эти сложные аналитические возможности в стандартные лабораторные условия. Основные преимущества и практическая ценность Конструкция этого прибора решает несколько важнейших проблем, с которыми сталкиваются исследователи: Лабораторная альтернатива синхротронному излучению: устраняет традиционную зависимость от источников синхротронного излучения, позволяя исследователям эффективно проводить рутинные испытания XAFS в собственных лабораторных условиях, тем самым значительно повышая производительность исследований. Возможности проведения испытаний на месте: поддерживает интеграцию различных камер для образцов на месте (например, электрохимических, с переменной температурой), что позволяет в режиме реального времени отслеживать динамические изменения в локальной атомной структуре материала в моделируемых рабочих условиях (например, каталитических реакциях или процессах заряда/разряда аккумулятора), предоставляя ценную информацию о механизмах реакций. Автоматизированная работа для повышения эффективности: 18-позиционная башня для образцов обеспечивает автоматическую смену образцов, облегчая непрерывное автоматическое измерение нескольких образцов и работу без участия человека, тем самым оптимизируя скрининг партий образцов и расширенные эксперименты в место. Широкая область применения Спектрометр ТД-XAFS находит применение во многих областях, требующих детального исследования локальных структур материалов: Новые энергетические материалы: анализ изменений валентного состояния и структурной стабильности материалов электродов литий-ионных аккумуляторов в процессах заряда/разряда; исследование координационных сред на каталитически активных участках топливных элементов. Наука о катализе: особенно подходит для изучения точных координационных структур нанокатализаторов и одноатомных катализаторов, характеристик активных центров и их взаимодействий с материалами-носителями, даже при низких концентрациях металла (<1%). Материаловедение: исследование неупорядоченных структур, аморфных материалов, поверхностных/интерфейсных эффектов и динамических фазовых переходов. Науки об окружающей среде: анализ валентных состояний и координационных структур элементов тяжелых металлов в образцах окружающей среды (например, почве, воде), имеющий решающее значение для оценки токсичности и мобильности. Биологические макромолекулы: изучение электронных структур и геометрических конфигураций металлических активных центров в металлопротеинах и ферментах. Краткое содержание Спектрометр TD-XAFS компании Dandong Tongda представляет собой высокопроизводительную настольную испытательную платформу, разработанную для университетов, научно-исследовательских институтов и корпоративных научно-исследовательских центров. Он успешно интегрирует возможности синхротронного излучения в традиционные лаборатории, существенно снижая барьер доступности технологии XAFS. Прибор предоставляет исследователям удобные, эффективные и гибкие инструменты для анализа структуры микроскопических материалов, являясь практичным решением для учёных, изучающих микроскопический мир материи.