ТД-3700рентгеновский дифрактометр высокого разрешенияявляется новым членом серии , оснащенным различными высокопроизводительными детекторами, такими как высокоскоростные одномерные матричные детекторы, двухмерные детекторы, детекторы и т. д. Он объединяет быстрый анализ, удобную эксплуатацию и безопасность пользователя. Модульная аппаратная архитектура и настраиваемая программная система достигают идеального сочетания, делая его интенсивность отказов чрезвычайно низкой, антиинтерференционные характеристики хорошими и гарантируя долгосрочную стабильную работу высоковольтного источника питания.

ТД-3700рентгеновский дифрактометр высокого разрешенияПоддерживает не только обычный метод сканирования дифракционных данных, но и метод сканирования трансмиссионных данных. Разрешение трансмиссионного режима намного выше, чем у дифракционного режима, что подходит для структурного анализа и других областей. Дифракционный режим имеет сильные дифракционные сигналы и больше подходит для рутинной фазовой идентификации в лаборатории. Кроме того, в трансмиссионном режиме образец порошка может находиться в следовых количествах, что подходит для сбора данных в случаях, когда размер образца относительно мал и не соответствует требованиям дифракционного метода для подготовки образца.

Матричный детектор полностью использует технологию смешанного счета фотонов, без шума, с быстрым сбором данных и более чем в десять раз большей скоростью, чем у сцинтилляционных детекторов. Он имеет превосходное энергетическое разрешение и может эффективно удалять эффекты флуоресценции. Многоканальные детекторы имеют более быстрое время считывания и достигают лучшего соотношения сигнал/шум. Система управления детектором с электронным стробированием и внешним запуском эффективно завершает синхронизацию системы.

Принцип работы -3700рентгеновский дифрактометр высокого разрешения:

Используя флуктуацию рентгеновских лучей, когда они облучают кристалл, атомы или ионы в кристалле действуют как рассеивающие центры, рассеивая рентгеновские лучи во всех направлениях. Из-за регулярности расположения атомов в кристаллах эти рассеянные волны интерферируют друг с другом и усиливают друг друга в определенных направлениях, образуя дифракцию. Измеряя угол дифракции и интенсивность дифракции, можно получить структурную информацию о кристалле.

Основные характеристики -3700рентгеновский дифрактометр высокого разрешенияявляются:

(1) Простая в эксплуатации система сбора одним щелчком;    

(2) Модульная конструкция, подключаемые и работающие принадлежности, нет необходимости в калибровке;

(3) Онлайн-мониторинг в режиме реального времени с использованием сенсорного экрана для отображения состояния прибора;

(4) Электронное устройство блокировки свинцовой двери, двойная защита, обеспечивающая безопасность пользователя;

(5) Высокочастотный и высоковольтный рентгеновский генератор со стабильной и надежной работой;

(6) Усовершенствованный блок управления записью с высокой помехоустойчивостью.

Высокая точность -3700рентгеновский дифрактометр высокого разрешенияпозволяет проводить высокоточный анализ кристаллической структуры материалов, например, точное определение постоянных решетки, параметров ячейки и т. д. Точность измерения угла может достигать±0.0001°.

Высокое разрешение -3700рентгеновский дифрактометр высокого разрешенияможет четко различать соседние дифракционные пики, точно анализировать дифракционную информацию различных кристаллических плоскостей для сложных кристаллических структур и выявлять микроструктурные характеристики материалов.

Неразрушающий характер -3700рентгеновский дифрактометр высокого разрешения: это не приведет к повреждению образца в процессе тестирования, и образец может быть сохранен в своем первоначальном состоянии для многократных тестов, что особенно важно для ценных или труднодоступных образцов.

Экспресс-анализ -3700рентгеновский дифрактометр высокого разрешения: Современные рентгеновские дифрактометры высокого разрешения обладают высокой скоростью обнаружения и могут выполнять испытания образцов за короткий промежуток времени, что повышает эффективность работы.

3. Области применения ТД-3700рентгеновский дифрактометр высокого разрешения:

Полупроводниковые материалы: используются для определения качества кристаллов полупроводниковых монокристаллических материалов и эпитаксиальных тонких пленок, анализа несоответствия кристаллической решетки, дефектов и другой информации, что помогает оптимизировать производительность полупроводниковых приборов.

Сверхпроводящие материалы: изучение кристаллической структуры и процесса фазового перехода сверхпроводящих материалов с целью создания основы для оптимизации сверхпроводящих свойств.

Наноматериалы: анализ размера зерна, кристаллической структуры, микроскопической деформации и т. д. наноматериалов помогает исследователям лучше понять их свойства и области применения.

Другие области: Он также широко используется в исследованиях и контроле качества металлических материалов, керамических материалов, полимерных материалов, биоматериалов и других областях. Высокоточный рентгеновский дифрактометр с высоким разрешением — это высокоточный, неразрушающий и быстрый аналитический инструмент с важным прикладным значением во многих областях.