1. Как выбрать пиковую функцию при подгонке полного графика (WPF)?

Отвечать:В программном обеспечении ДЖЕЙД в модуле WPF можно выбрать одну из трех пиковых функций. (1) Функция псевдо-Фойгта, то есть функция PV, представляет собой комбинацию функции Гаусса и функции Лоренца, которая может точно изменять смешанный коэффициент, обычно применимый к большей части подгонки пика, например, дифракционный пик не слишком резкая, левая сторона дифракционного пика не слишком серьезная, вариант функции псевдо-Фойгта; Если некоторые картины пиков, такие как дифракция нейтронов, являются чисто гауссовыми функциями, то для имитации дифракционных пиков можно выбрать только функцию квази-Фойгта. (2) функция Пирсона VII для улучшения функции Лоренца, но может уточнить функцию коэффициента асимметрии; (3) Модель ФКЖ в основном применима к явлению серьезного следа на левой стороне малоуглового дифракционного пика, вызванного осевой дивергенцией,дифракционный пикимеет серьезную асимметрию.

Если неясно, какую функцию выбрать, можно выбрать другую функцию для наблюдения за R-значением в процессе уточнения WPF и выбрать функцию с наименьшим R-значением.

При подгонке профиля пика в дополнение к трем функциям WPF используется четвертая функция профиля пика."отделился Пирсон VII", который в основном применим к моделированию разделения дифракционных пиков, когда профиль пика сильно асимметричен.

Совет: Прежде чем закончить, если вы не знаете, какую функцию типа пика выбрать, вы можете увеличить дифракционный пик. В функции"подходящий козырек", выберите различные функции подгонки для пиковой подгонки соответственно, чтобы наблюдать ситуацию значения R после завершения, и выберитетип пика функция с наименьшим R-значением.

2. В процессе извлечения фазы, для фазы, не включенной в библиотеку карт PDF, как импортировать самостоятельно созданный файл СИФ в базу данных карт PDF?

Отвечать:База данных карты PDF не позволяет клиентам добавлять записи об этапах, но программное обеспечение ДЖЕЙД поддерживает пользователей для использования файлов СИФ для создания базы данных, выберите в строке меню: База данных>>Создайте базу данных структуры, в"ручной работыКристальная структураокно управления данными", создайте новую базу данных ЦДЦД, прочитайте файл СИФ в ДЖЕЙД и рассчитайте список ди я, и пользователь успешно создаст базу данных.

Созданную пользователем базу данных можно использовать для поиска фаз, уточнения Ритвельда и т. д. В процессе поиска фаз собственные данные пользователя автоматически появятся в списке выбора базы данных в правом нижнем углу интерфейса ДЖЕЙД.

3. Как в процессе уточнения параметров ячейки определить, является ли результат точным? Какие параметры больше влияют на вес?

Отвечать:Обычно в процессеXRDуточнение, параметры ячейки, как правило, более точные, и основное наблюдение пика уточнения может быть. В программном обеспечении ДЖЕЙД для точной уточнения параметров ячейки специально задана функция уточнения параметров ячейки без структуры. В окне WPF щелкните правой кнопкой мыши фазу и выберите"нет структурной фазы"для переработки.

В процессе выбора"нет структурной фазы"для уточнения параметров ячейки: 1) необходимо обратить внимание на факторы влияния дрейфа нуля и смещения образца на дифракционный пик; (2) Точное уточнение площади дифракционного пика, только когда площадь пика является точной, положение пика дифракционного пика будет точным. Выбор"нет структурной фазы"для уточнения параметров ячейки указывает, что имеет значение только положение дифракционного пика, а не интенсивность дифракционного пика. Преимущество в том, что площадьодиночный дифракционный пикмогут быть уточнены, и параметры уточненной ячейки будут очень точными.

Факторами, влияющими на вес, являются функция типа пика, фоновая кривая, способы обработки перекрывающихся пиков в нескольких фазах и так далее.