Параллельный лучДифракция рентгеновского излученияДля анализа можно использовать мультикапиллярный коллимирующий оптический кристалл для формирования параллельного возбуждаемого пучка рентгеновских лучей высокой интенсивности, что приводит к очень высокой интенсивности рентгеновских лучей на поверхности образца. Определение дифракции рентгеновских лучей:

Для геометрии параллельного луча положение образца может меняться, и система рентгеноструктурный анализ больше не ограничена необходимостью делать расстояние между источником рентгеновского излучения и образцом равным расстоянию между образцом и детектором. Гибкость геометрии может быть адаптирована к существующим условиям производства и может использоваться для более широкого диапазона форм и размеров образцов. Параллельный лучрентгеноструктурный анализне только нечувствителен к ошибкам, связанным со смещением образца; Практически все другие известные инструментальные функции ошибок также исключены.

Рентгенографический анализ с параллельным лучом с использованиемРентгеновскийОптические кристаллы успешно применяются для анализа тонких пленок и оценки текстуры образцов.