Пдругойоптический фильмизмерительный аксессуар специализированный компонент, используемый в рентгеновских дифрактометрах, в основном для повышения интенсивности сигнала и точности обнаружения тонкопленочных образцов.

1.Основные функциипараллельные оптические принадлежности для измерения пленкиявляется

Подавление помех рассеяния: за счет увеличения длины решетки происходит фильтрация большего количества рассеянных лучей, что снижает влияние сигнала подложки на результаты дифракции тонкой пленки и, таким образом, повышает силу сигнала тонкой пленки.

Повышение точности анализа тонких пленок: подходит для испытания толщины и других сценариев использования нанослойных тонких пленок, в сочетании с насадками для малоугловой дифракции, анализа малоугловой дифракции в диапазоне 0°~5°может быть достигнута.

2. Конструктивные характеристикиизпараллельные оптические принадлежности для измерения пленкиявляется

Конструкция решетки: за счет увеличения длины решетки оптимизируется путь рентгеновских лучей, повышается фильтрующая способность рассеянных лучей и обеспечивается чистота сигнала дифракции тонкой пленки.

3. Область примененияпдругойоптический фильмизмерительный аксессуар

Исследования тонкопленочных материалов: анализ кристаллической структуры наномногослойных пленок и сверхтонких пленок.

Испытания полупроводников и покрытий: используются для оценки однородности, кристаллического качества и других характеристик тонких пленок.

4. Совместимое оборудование дляпдругойоптический фильмизмерительный аксессуар

Эту насадку можно адаптировать к различным моделям рентгеновских дифрактометров, включая:

Рентгеновский дифрактометр ТД-3500

Рентгеновский монокристаллический дифрактометр ТД-5000

Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр ТД-3700

Настольный рентгеновский дифрактометр ТДМ-20

В целом,пдругойоптический фильмизмерительный аксессуар значительно улучшает качество дифракционного сигнала тонкопленочных образцов за счет структурной оптимизации и подавления рассеяния и широко используется в материаловедении, производстве полупроводников и других областях, особенно подходит для высокоточного анализа тонких нанопленок.