Анализ текстуры проводился методом рентгеноструктурный анализ.
2023-10-27 10:00Неорганические материалы составляют большую часть всех твердых материалов, из них монокристаллов мало, а подавляющее большинство материалов используется в поликристаллической форме; В поликристаллических материалах теоретически кристаллографическая ориентация каждого зерна совершенно неупорядочена и распределена случайным образом. Однако во многих материалах в результате прокатки, экструзии и других процессов деформации или даже без деформации зерна в поликристалле демонстрируют более или менее статистическую неравномерность распределения, это явление называется предпочтительной ориентацией, этоорганизационная структураназывается текстурой.
1. Изучите причины текстуры
а. Наличие текстуры приведет к анизотропии свойств материала;
б.наличие текстуры, иногда вредной, например появление"ухо"во время обработки;
в. Наличие текстуры иногда является преимуществом, например, если в стальной пластине образуется большое количество текстуры поверхности {111}, характеристики материала при глубокой штамповке будут значительно улучшены.
Таким образом, углубленные исследования текстуры имеют большое значение для исследований и разработки новых материалов и управления производственными процессами.
2. Методы исследования текстур.
Современные методы анализа текстуры, в основномрентгеноструктурный анализи ЕБСР, оба имеют преимущества и недостатки, и часто их комбинируют:
Образец рентгеноструктурный анализ прост, а результаты измерений макроскопичны.
Метод ЕБСР сложен, а результаты измерений микроскопичны, но ЕБСР может напрямую определить распределение ориентации кристаллов.
3. Принцип рентгеноструктурного анализа.
Если зерна в кристаллическом образце имеют совершенно случайную ориентацию, прочность распределяется равномерно:
Если в кристалле имеется текстура, это неизбежно вызовет колебания интенсивности дифракции, и эти изменения интенсивности отражают неравномерное распределение ориентации зерен в пространстве:
Следовательно, до тех пор, покадифракцияИзмеряется интенсивность под каждым углом a и b, полярную карту можно получить с помощью проекции красной плоскости полярного излучения. Выполнив расчет в соответствии с измеренной полярной диаграммой, вы можете получить обратную полярную диаграмму, диаграмму ОДФ, количественную оценку текстуры и другую информацию: