一、Информация, полученная в ходе качественного анализа с помощью XRD

1. СогласноXRDинформация о шаблоне, можно определить, является ли образец аморфным или кристаллическим: аморфный образец представляет собой большой пик пакета, нет тонкой структуры пика спектра; Кристаллы имеют богатые характеристики спектральных линий. Кристалличность образца можно определить качественно, сравнив силу самого сильного пика в образце с силой стандартного материала.

2. Сравнивая со стандартным спектром, вы можете узнать, из какой фазы состоит образец (одно из наиболее важных примененийXRD).

3. Через разницу между измеренным образцом и стандартным значением фигуры спектра 2θ можно качественно проанализировать проблему того, расширяется или сжимается кристаллическая ячейка, посколькуXRDположение пика может определять размер и форму кристаллической ячейки.

два,Что XRD можно использовать для количественного анализа?

1. Средний размер зерна образца, основной принцип: приРентгеновский попадая на маленький кристалл, дифракционная линия становится размытой и широкой, чем меньше кристаллическое зерно, тем шире полоса рентгеновской дифракции. Следовательно, существует определенная зависимость между размером зерна и шириной полупика рентгенограммы, т. е. уравнение Шерре. Для металлических частиц на поверхности нанесенного катализатора размер частиц d (единица нм) и их дисперсия D могут быть просто преобразованы: d ≈ 0,9/D (примечание: 0,9 эта константа является эмпирическим значением).

2. Относительная кристалличность образца: как правило, площадь (Как), полученная путем интегрирования самого сильного дифракционного пика, используется в качестве показателя для расчета кристалличности, а площадь (Аг), полученная путем интегрирования стандартного материала, сравнивается. кристалличность =Как/Аг*100%.

3. Количественный анализ фазового состава: в основном используется метод значения K, также называемый методом РИР, и полноспектральная количественная оценка Ритвельда. Среди них основной принцип метода РИР заключается в том, что смесь 1: 1 вещества и корунда (Al2O3), его самая сильная интегральная сила дифракционного пика будет иметь отношение, соотношение является значением РИР. Значение интегральной прочности/РИР вещества всегда можно преобразовать в интегральную прочность Al2O3. Для смеси таким образом пересчитывают все компоненты вещества, а окончательно процентное содержание того или иного компонента можно получить нормированием.

4.XRDтакже может использоваться для точного расчета постоянной решетки, расчета остаточного напряжения и т. д.