фон

рентгеноструктурный анализ для оборудования для определения характеристик материалов

2023-10-10 10:00

Рентгеновская дифракция (рентгеноструктурный анализ) — это средство исследования для получения такой информации, как состав материала, структура или форма внутреннего атома или молекулы, путем анализа его дифракционной картины с помощьюДифракция рентгеновского излучения.

X-ray diffractionРентгеновский дифрактометр ТДМ-20


1. Структура прибора:

Рентгеновский дифрактометр в основном состоит из четырех частей: генератора рентгеновских лучей, прибора для измерения угла, системы измерения интенсивности рентгеновского излучения и системы управления дифрактометром, а также системы сбора и обработки дифракционных данных.


(1)Рентгеновский генератор:Генератор рентгеновского излучения обеспечивает рентгеновское излучение, необходимое для измерения высокостабильного источника рентгеновского излучения. Изменение анодной целиРентгеновская трубкаможет изменять длину волны рентгеновских лучей, а регулировка анодного напряжения может контролировать интенсивность источника рентгеновского излучения.

(2)Гониометр:Прибор для измерения угла является основным компонентом рентгеновского дифрактометра, который в основном состоит из диафрагмы, дивергентной щели, приемной щели, противорассеивающей щели, основания образца и сцинтилляционного детектора.

(3)Система измерения интенсивности рентгеновского излучения:Обычно используемый детектор вдифрактометрЭто сцинтилляционный счетчик, который использует флуоресценцию длин волн видимого диапазона света, создаваемую рентгеновскими лучами в некоторых твердых веществах (фосфоресцентную), и эта флуоресценция преобразуется в электрический ток, который можно измерить. Поскольку выходной ток пропорционален энергии рентгеновских фотонов, поглощаемых счетчиком, его можно использовать для измерения интенсивности дифракционной линии.

(4)Система управления дифрактометром и система сбора и обработки дифракционных данных:После завершения операции сканирования исходные данные дифракции автоматически сохраняются на жестком диске компьютера для анализа и обработки данных. Анализ и обработка данных включают выбор точки сглаживания, обратный вывод, автоматический поиск пика, расчет значения d, расчет интенсивности дифракционного пика и так далее.

TDM-20 X-ray Diffractometer

2. Особенности прибора:

(1) Идеальное сочетание аппаратной системы и программного обеспечения для удовлетворения потребностей различных областей применения.

(2) Высокоточная система измерения угла дифракции для получения более точных результатов измерений.

(3) Высокая стабильностьСистема управления рентгеновским генераторомм, чтобы получить более стабильную точность повторных измерений.

(4) Программа геохимических исследований, интегрированная конструкция конструкции, простота в эксплуатации, более красивый внешний вид прибора.


3. Типичная оценка морфологии

X-ray tubeX-ray diffraction


Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)
This field is required
This field is required
Required and valid email address
This field is required
This field is required