Дифракция рентгеновского излученияКартина служит наиболее надежной основой для определения поликристаллических структур, а рентгенограмма часто рассматривается как"отпечаток пальца"кристаллических узоров. 

Данные рентгеноструктурного анализа, полученные после испытания порошкаРентгеновский дифрактометрклассифицируются на следующие три категории: (1) Определение поликристаллического типа по углу 2θ и расстоянию между кристаллическими плоскостями (значение d) представляет собой информацию о расположении и положении атомов и молекул в API лекарственного средства; это характерная информация о типе кристалла. (2) Высота пика, пиковая сила и относительная пиковая прочность представляют собой статистику распределения различных кристаллических плоскостей в кристаллическом узоре, которая является характерной информацией о кристаллическом узоре образца и основой для количественного анализа кристаллического узора. (3) Полуширина указывает форму пикадифракция Пик, отражающий свойства размера и формы зерна поликристалла, не служит характеристической информацией о типе кристалла.