Приводимый в действие импортным шаговым двигателем и управляемый импортным программируемым логическим контроллером (ПЛК) Сименс, нет необходимости в ручной замене образцов. Система автоматически непрерывно измеряет образцы и автоматически сохраняет данные. Шесть образцов могут быть загружены одновременно для непрерывного измерения. В целом, как эффективное вспомогательное экспериментальное оборудование, автоматический сменщик образцов играет важную роль во многих областях. С непрерывным развитием технологий и растущим спросом на приложения производительность и функциональность автоматического сменщика образцов также будут и дальше улучшаться и совершенствоваться.

Многофункциональные интегрированные измерительные принадлежности используются для анализа пленок на платах, блоках и подложках и могут выполнять такие испытания, как определение кристаллической фазы, ориентации, текстуры, напряжения и плоскостной структуры тонких пленок. Многофункциональные интегрированные измерительные принадлежности обычно предназначены для повышения функциональности рентгеновского дифрактометра, позволяя им адаптироваться к более разнообразным потребностям тестирования. Существует тесная связь между многофункциональными интегрированными измерительными принадлежностями и рентгеновским дифрактометром. Эти принадлежности не только повышают функциональность и производительность рентгеновского дифрактометра, но и повышают его простоту эксплуатации и безопасность. В практических приложениях пользователи могут выбирать подходящие принадлежности в соответствии со своими конкретными потребностями, чтобы расширить сценарии применения рентгеновского дифрактометра и повысить эффективность измерений.

Приспособление для исследования образцов при средних и низких температурах в-место предназначено для изучения изменений в кристаллической структуре в процессе низкотемпературного охлаждения; для обеспечения среды для образцов при средних и низких температурах (обычно ниже комнатной, но не экстремально низких, например, в диапазоне от -100 ℃ до комнатной температуры) для микроскопов и других приборов. Вакуумная среда: -196~500℃ Точность контроля температуры: ±0,5℃ Метод охлаждения: жидкий азот (расход менее 4 л/ч) Материал окна: Полиэстеровая пленка Метод охлаждения: циркуляционное охлаждение деионизированной водой

Высокотемпературная приставка предназначена для изучения изменений кристаллической структуры образцов при высокотемпературном нагреве, а также изменений во взаимном растворении различных веществ при высокотемпературном нагреве.  Высокотемпературные принадлежности играют решающую роль в качестве важного экспериментального и промышленного оборудования во многих областях. Широкий спектр областей применения, точные технические параметры и разнообразные типы продукции делают высокотемпературные принадлежности незаменимой частью научных исследований и промышленного производства. технические параметры Температурная установка: Среда инертного газа от комнатной температуры до 1200 ℃ Вакуумная среда с высокой температурой 1600 ℃ Точность контроля температуры: ± 0,5 ℃ Материал окна: Полиэстеровая пленка

Рентгеновские трубки, специально разработанные для аналитических приборов: гофрированные керамические трубки, металлокерамические трубки и стеклянные трубки, подходящие для различных моделей рентгеновской дифракции, рентгенофлуоресцентных анализаторов, кристаллических анализаторов и приборов ориентации как в стране, так и за рубежом. Технические параметры рентгеновских трубок: 1. Дополнительные типы материалов мишени: Cu, Ко, Фе, Кр, Мо, Ти, W и т. д. 2. Тип фокусировки: 0,2 × 12 мм² или 1 × 10 мм² или 0,4 × 14 мм² (точная фокусировка)

Первоначально Аккумулятор Аксессуар, диапазон тестирования: 0,5-160 градусов, термостойкость: 400 ℃, размер бериллиевого окна (полиэфирная пленка): диаметр 15 мм (настраивается); Толщина 0,1 мм (настраивается). Они широко используются в качестве аксессуаров рентгеновского дифрактометра в электрохимических системах, содержащих углерод, кислород, азот, серу, внедренные комплексы металлов и т. д. Первоначально Аккумулятор Аксессуар используется для фиксации всего столика образца Первоначально Аккумулятор на приборе для измерения угла рентгеновского дифрактометра, выступая в качестве соединения и поддержки.

Многофункциональный держатель образцов относится к аксессуарам рентгеновского дифрактометра (аксессуар Рентгенодифракционный анализ), который использует передовые технологии проектирования и идеи модульного дизайна и достигает таких функций, как вращение, подъемный дифференциал и устойчивость к высокотемпературному окислению за счет комбинации различных модулей. Многофункциональный держатель образцов подходит для различных передовых технологий роста и осаждения тонких пленок, включая МВЕ (молекулярно-лучевая эпитаксия), ПЛД (импульсное лазерное осаждение), магнетронное распыление и ЭБ (электронно-лучевое испарение), а также может использоваться для отжига подложки, высокотемпературной дегазации и модификации материала. Подложка многофункционального держателя образцов может достигать максимальной температуры нагрева 1100 ℃ и может быть подключена к РФ/округ Колумбия с самовращающимся устройством и скоростью 0-20 оборотов в минуту. Он непрерывно регулируется и обеспечивает нулевое позиционирование. Модульная конструкция позволяет выбирать несколько конфигураций комбинаций, а размер образца может вмещать до 8 дюймов. Подводя итог, можно сказать, что многофункциональный держатель образцов — это мощное и гибкое экспериментальное оборудование, подходящее для различных научных исследований и промышленных применений в качестве аксессуара для рентгеновского дифрактометра (Рентгенодифракционный анализ-аксессуар). Модульная конструкция и множество функций многофункционального столика для образцов делают его незаменимым инструментом в лабораториях и промышленном производстве.

Параллельный оптический измерительный аксессуар для пленки — это специализированный инструмент для рентгеновского дифракционного анализа, который отфильтровывает больше рассеянных линий за счет увеличения длины решетчатой ​​пластины, тем самым уменьшая влияние сигнала подложки на результаты и усиливая интенсивность сигнала тонкой пленки. В области материаловедения параллельный оптический измерительный аксессуар для пленки обычно используется для изучения кристаллической структуры, поведения фазового перехода и напряженного состояния тонкопленочных материалов. С развитием нанотехнологий параллельный оптический измерительный аксессуар для пленки также широко используется при испытании толщины и анализе малоугловой дифракции наномногослойных пленок. Проектирование и производство параллельного оптического измерительного аксессуара для пленки преследуют высокую точность для удовлетворения требований научных исследований и промышленного производства к точности данных. Во время использования параллельный оптический измерительный аксессуар для пленки должен поддерживать высокую степень стабильности для обеспечения надежности результатов испытаний. С развитием технологий и промышленности постоянно растет спрос на высокоточные и высокостабильные аналитические приборы. Параллельные оптические пленочные измерительные принадлежности, как важный компонент, также испытывают устойчивый рост спроса на рынке. Для того чтобы удовлетворить рыночный спрос и улучшить эксплуатационные характеристики продукта, технология параллельных оптических пленочных измерительных принадлежностей постоянно совершенствуется и внедряет инновации. Например, улучшение материала и конструкции решетчатых пластин, оптимизация оптической системы и другие средства могут улучшить эффект фильтрации и возможности усиления сигнала. Подводя итог, можно сказать, что параллельные оптические пленочные измерительные принадлежности играют решающую роль в рентгеноструктурном анализе. С развитием технологий и промышленности перспективы их применения станут еще шире.

Принадлежности для малоуглового дифрактометра — это специальные устройства, используемые в экспериментах по рентгеновской дифракции (Рентгенодифракционный анализ), в основном для измерения пиков дифракции в диапазоне малых углов для изучения микроструктуры и свойств материалов. Принадлежности для малоуглового дифрактометра — это специализированные устройства для рентгеновских дифрактометров, которые позволяют проводить точные измерения дифракции в диапазоне малых углов 2θ (обычно от 0° до 5° или ниже). Эта технология имеет большое значение для изучения наноструктур, мезопористых материалов, многослойных пленок и других материалов. Путем настройки соответствующих принадлежностей для малоуглового дифрактометра можно точно измерить толщину наномногослойных пленок. В целом, принадлежности для малоуглового дифрактометра являются незаменимым и важным компонентом рентгеновских дифрактометров с широкими перспективами применения в материаловедении, химии, физике и других областях.

Волоконные аксессуары тестируются на их уникальную кристаллическую структуру с использованием метода рентгеновской дифракции (пропускания). Тестируйте ориентацию образца на основе таких данных, как кристалличность волокна и ширина половины пика. Волоконно-оптические аксессуары имеют широкий спектр применения в различных областях, включая материаловедение, биомедицину, химическую инженерию, нанотехнологии, геологоразведку, мониторинг окружающей среды и многое другое.

Система рентгеновского облучателя в шкафу генерирует высокоэнергетические рентгеновские лучи для облучения клеток или мелких животных. Используется для различных фундаментальных и прикладных исследований. В истории использовалось оборудование для облучения радиоактивных изотопов, которое требовало транспортировки образцов в основную установку для облучения. Сегодня в лабораториях можно устанавливать более мелкие, безопасные, простые и недорогие рентгеновские облучатели для удобного и быстрого облучения клеток. Различные образцы можно напрямую облучать в лаборатории, не влияя на фертильность или безопасность. Это биологическое рентгеновское облучательное устройство удобно для использования персоналом без профессиональной рентгеновской подготовки, и нет дорогостоящих лицензионных заявлений или затрат на техническое обслуживание для обеспечения безопасности или источников излучения. Рентгеновский облучатель прост в эксплуатации, безопасен, надежен и экономически эффективен и может заменить источники радиоактивных изотопов.

Анализатор ориентации рентгеновских лучей — это устройство, которое использует принцип рентгеновской дифракции для определения ориентации кристаллов. Он широко используется в таких областях, как материаловедение, геология, физика и т. д., для изучения структуры кристаллов, параметров решетки, дефектов кристаллов и т. д. Принцип работы анализатора ориентации рентгеновских лучей заключается в облучении монохроматическим рентгеновским пучком исследуемого кристалла. Когда рентгеновские лучи взаимодействуют с атомами в кристалле, происходит рассеяние. Согласно закону Брэгга, когда длина волны рентгеновских лучей является целым кратным атомного расстояния в кристалле, рассеянный свет будет интерферировать и образовывать ряд чередующихся ярких и темных полос, известных как брэгговские отражения. Измеряя углы и интенсивности этих брэгговских отражений, можно рассчитать такую ​​информацию, как ориентация кристалла и параметры решетки. Анализатор рентгеновской ориентации обычно включает в себя следующие основные части: 1. Источник рентгеновского излучения: устройство, которое производит монохроматические рентгеновские лучи, обычно с использованием рентгеновской трубки или источника синхротронного излучения. 2. Подставка для образца: платформа, используемая для размещения испытуемого кристалла, с помощью которой можно регулировать положение и угол наклона кристалла. 3.Детектор: используется для приема рассеянных рентгеновских лучей и преобразования их в электрические сигналы. Обычные детекторы включают сцинтилляционные счетчики, пропорциональные счетчики и т. д. 4.Система сбора и обработки данных: используется для сбора сигналов, выдаваемых детекторами, и выполнения обработки и анализа данных. Обычно включает многоканальные анализаторы, компьютеры и другое оборудование. 5.Система управления: используется для управления движением источника рентгеновского излучения, предметного столика и детектора для проведения измерений кристаллов в различных направлениях. Используя анализатор ориентации рентгеновских лучей, исследователи могут точно определять ориентацию и параметры решетки кристаллов, тем самым получая более глубокое понимание их структуры и свойств. Это имеет большое значение для разработки новых материалов, геологической разведки, выращивания кристаллов и других областей.