В качестве одного из важных средств характеристики структуры материала,рентгеноструктурный анализшироко используется в материалах, физике, химии, медицине и других областях. Чтобы получить точные результаты анализа или изучить больше структурной информации, качество данных дифракции рентгеновских лучей является основой, а также ключевой частью анализа рентгенограмм. 

                                               Рисунок 1. Составрентгеноструктурный анализшаблон

Компоненты рентгенограммы и соответствующие им физические параметры:

1. Пиковое положение: (1) Точное. (2)Космическая группа. (3) Параметры ячейки.

2. Пиковая прочность: (1) Высокая прочность. (2)Кристальная структура.(3) Количественный анализ.

3. Форма пика: (1) Полуширина небольшая, форма пика симметричная (рис. 2). (2) Расширение инструментария. (3) Микроструктура образца.

4. Задняя часть и нижняя часть: (1) Низкая задняя часть и нижняя часть, плавный низкий угол, высокое соотношение пиковой мощности, высокое соотношение сигнал/шум. (2) Предел обнаружения слабых пиков (рис. 3). (3) Аморфный диффузный пик,"кристалличность".

                                   Рис.2 Рентгенограммы с разным разрешением.

                      Рис.3 Отношение пик-сигнал и отношение сигнал-шум имеют слабые пики.

Дифракция рентгеновского излучениякачество данных и эффективность тестирования

1. Сбор высококачественных данных часто обратно пропорционален эффективности тестирования и требует очень много времени. Точная отладка прибора, разумный выбор оборудования и длительное время тестирования.

2. Не каждое приложение требует очень высокого качества данных. Соответствующее оборудование и условия измерения следует выбирать в соответствии с потребностями различных приложений, чтобы получить соответствующее качество данных и повысить эффективность испытаний.