Рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS)— мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов, широко используемый в таких популярных областях, как катализ, энергетика и нанотехнологии.

Основной принципРентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) заключается в том, что когда энергия рентгеновских лучей резонирует с энергией внутренней электронной оболочки элемента в образце, резкое увеличение электронов возбуждается, образуя непрерывный спектр, который называется краем поглощения. Вблизи края поглощения, по мере увеличения энергии рентгеновских лучей, скорость поглощения монотонно уменьшается с увеличением глубины проникновения рентгеновских лучей. Когда спектр простирается за пределы определенного края, можно наблюдать тонкие структуры, где области поглощения рентгеновских лучей вблизи краевых структур (КСАНЕС) появляются, как только пики и плечи шириной, превышающей 20-30 электрон-вольт, проходят через начальную точку края. Тонкая структура, расположенная на высокоэнергетической стороне края, где энергия затухает до нескольких сотен электрон-вольт, называется тонкой структурой поглощения рентгеновских лучей (XAFS).

Основные особенностиРентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) являются:

Чувствительность к ближнему порядку: зависит от ближнего порядка и не зависит от дальнего порядка, что позволяет измерять широкий спектр образцов. Может использоваться для аморфных, жидких, расплавленных, активных центров катализаторов, металлических белков и т. д., а также для структурных исследований примесных атомов в кристаллах.

Сильные элементные характеристики: Край поглощения рентгеновских лучей имеет элементные характеристики, и для атомов различных элементов в образце можно изучать структуру атомных соседей различных элементов в одном и том же соединении, регулируя энергию падающего рентгеновского излучения.

Высокая чувствительность: метод флуоресценции можно использовать для измерения образцов элементов с концентрацией до одной миллионной.

Комплексное получение структурной информации: возможность предоставления параметров, определяющих локальную структуру, таких как расстояние между поглощающими атомами и соседними атомами, количество и тип этих атомов, а также степень окисления поглощающих элементов.

Подготовка образца проста: не требуется монокристалл, а в условиях эксперимента время сбора данных относительно короткое. При использовании синхротронного источника рентгеновского излучения для измерения спектральной линии обычно требуется всего несколько минут.

Главные преимуществаРентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) являются:

Основное преимущество: продукт с самым высоким световым потоком

Поток фотонов, превышающий 1000000 фотонов/сек/эВ, со спектральной эффективностью, в несколько раз превышающей другие продукты; Получение качества данных, эквивалентного синхротронному излучению

Превосходная стабильность:

Стабильность интенсивности монохроматического света источника света лучше 0,1%, а дрейф энергии при повторном сборе составляет менее 50 мэВ.

Предел обнаружения 1%:

Высокий световой поток, превосходная оптимизация оптического пути и превосходная стабильность источника света гарантируют возможность получения высококачественных данных EXAFS, даже если содержание измеряемого элемента составляет 1%.

4. Области примененияРентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) :

Область энергетики: например, исследования литиевых батарей и других материалов для вторичных батарей, исследования топливных элементов, исследования материалов для хранения водорода и т. д. XAFS можно использовать для определения концентрации, валентного состояния, координационной среды и динамических изменений атомов ядра во время циклов заряда-разряда и электрохимических реакций.

Область катализа: используется для исследований катализа наночастиц, катализа отдельных атомов и т. д. Получите морфологию катализатора на носителе, форму взаимодействия с носителем и ее изменения в ходе каталитического процесса с помощью XAFS, а также соседние структуры ионов металлов с чрезвычайно низким содержанием.

В области материаловедения,Рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) используется для характеристики различных материалов, изучения сложных систем и неупорядоченных структурных материалов, исследования радиоактивных изотопов, изучения связанных свойств поверхностных и интерфейсных материалов, а также изучения динамических изменений в материалах.

В области геологии,Рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) может быть использован для анализа валентного состояния элементов рудных материалов при геологических исследованиях.

Область экологии: КС может использоваться для анализа валентного состояния элементов Кр/Как и т. д.

В области радиохимии,Рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) может быть использован для анализа валентного состояния элементов Се, U и т. д.

TheРентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) Играет важную роль в современных научных исследованиях благодаря своему уникальному принципу работы, значительным характеристикам и широким областям применения. Он предоставляет людям мощные средства для более глубокого понимания микроструктуры и химического состояния вещества, способствуя развитию и прогрессу множества дисциплинарных областей.