фон

Принцип работы рентгеновского дифрактометра

2025-12-17 10:24

Макроскопические свойства вещества в своей основе определяются его микроскопической кристаллической структурой. Технология рентгеновской дифракции (Рентгенодифракционный анализ) служит важнейшим «научным глазом» для раскрытия этой фундаментальной тайны. Ее основной принцип основан на законе Брэгга: когда монохроматический рентгеновский луч падает на кристаллический материал, дифракция происходит под определенными углами, создавая уникальную дифракционную картину, которая действует как «отпечаток пальца» материала. Эта картина является ключом к расшифровке фазового состава материала, кристаллической структуры, напряженного состояния и даже размера зерен.

The Principle of X-ray Diffractometer

Основной принцип: рентгеновская дифракция кристаллами

Рентгеновские лучи — это электромагнитные волны с очень короткими длинами волн (приблизительно 0,01–10 нм), сравнимыми с расстоянием между атомами в кристаллической решетке (по шкале Ангстрема). Когда монохроматический рентгеновский луч облучает кристалл с регулярным расположением атомов, электроны каждого атома колеблются и становятся вторичными источниками рассеянных рентгеновских лучей. Хотя эти рассеянные волны в основном компенсируют друг друга, они интерферируют конструктивно — или дифрагируют — только в определенных направлениях, где разность хода между волнами равна целому кратному длине волны. Это явление, впервые продемонстрированное Лауэ в 1912 году, является прямым доказательством периодической кристаллической структуры.

X-ray Diffractometer

Основное уравнение: Закон Брэгга

Сэр У. Х. Брэгг и У. Л. Брэгг предложили упрощенную, эффективную модель, рассматривая дифракцию как «отражение» от параллельных атомных плоскостей внутри кристалла. Дифракция происходит только при выполнении следующего условия:

2d sinθ = nλ

d — это межплоскостное расстояние, фиксированный параметр кристалла.

θ — это угол между падающим рентгеновским лучом и плоскостью кристалла (угол Брэгга).

λ — длина волны падающего рентгеновского излучения.

n — положительное целое число (порядок дифракции).

Это элегантное уравнение напрямую связывает измеряемый угол дифракции (θ) с межатомным расстоянием (d), образуя количественную основу для всего рентгенодифракционного анализа.

Универсальная рабочая лошадка:Рентгеновский дифрактометр ТД-3500

ОнТД-3500Это высокопроизводительный порошковый дифрактометр общего назначения, известный своей исключительной стабильностью и точностью, что делает его идеальным выбором для университетов, научно-исследовательских институтов и промышленного контроля качества.

Diffractometer

Непревзойденная точность:

 Его гониометрическая система, созданная с использованием импортных высокоточных подшипников и сервопривода с полной обратной связью, обеспечивает минимальный шаг в 0,0001° и повторяемость 2θ ≤0,0005°, гарантируя точность данных, необходимых для надежного анализа.

Надежный и долговечный:

В системе используется импортный ПЛК (программируемый логический контроллер) Сименс для управления движением, обеспечивающий превосходную стабильность и более низкий уровень отказов по сравнению с традиционными конструкциями, гарантируя длительную и бесперебойную работу.

Широкий спектр применения:

Вертикальная горизонтальная (θ-θ) конструкция гониометра позволяет анализировать различные типы образцов, включая жидкости, пасты, порошки и сыпучие вещества, с минимальным риском загрязнения основных компонентов прибора.

Передовое исследовательское решение:Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр ТД-3700

Разработанный для проведения передовых исследований и высокоточной характеризации, ТД-3700 Обеспечивает превосходную производительность для самых требовательных задач.

The Principle of X-ray Diffractometer

Высокоскоростной сбор данных:

В нем используется стандартный высокопроизводительный одномерный матричный детектор, который может ускорить сбор данных в десятки и сотни раз по сравнению с обычными точечными детекторами, что значительно повышает производительность исследований.

Двойные режимы измерения:

 Помимо стандартной геометрии отражения, ТД-3700Этот уникальный режим поддерживает анализ в режиме пропускания. Он обеспечивает более высокое разрешение для изучения кристаллической структуры и требует лишь минимального количества образца.

Расширенные возможности:

Платформа разработана для бесшовной интеграции с различными аксессуарами, такими как детекторы СДД, устройства для проведения экспериментов на месте (например, для исследований батарей или высокотемпературных исследований) и автоматические устройства смены образцов, что позволяет проводить все виды исследований — от высокопроизводительного скрининга до динамических экспериментов на месте.

Компактный специалист:Настольный рентгеновский дифрактометр ТДМ-20

X-ray Diffractometer

ОнТДМ-20Этот метод отвечает потребностям в удобстве и эффективности в промышленных условиях, учебных лабораториях или помещениях с ограниченным пространством, не снижая при этом аналитических возможностей.

Интегрированный и эффективный: Этот компактный настольный прибор объединяет рентгеновскую трубку, генератор, гониометр и детектор. Обладая максимальной мощностью 1200 Вт и широким диапазоном 2θ от -3° до 150°, он позволяет проводить профессиональный качественный, количественный анализ и анализ гранулометрического состава.

Интеллектуальное и стабильное решение: в нем также используется передовая технология управления ПЛК для интеллектуальной работы и надежной производительности, что обеспечивает комплексное, компактное аналитическое решение.

От универсальногоТД-3500и продвинутые ТД-3700то компактный ТДМ-20,Даньдун Тонгда Технолоджи Ко., Лтд.Мы предлагаем широкий ассортимент продукции, отвечающий самым разнообразным потребностям — от образования и рутинного анализа до передовых исследований и промышленного применения. Каждый прибор воплощает наше мастерство в области основных технологий и стремление к инженерному совершенству. Мы предоставляем не только высокоточные приборы, но и комплексные решения, обеспечивающие точные данные и более глубокое понимание для поддержки инноваций и прогресса в материаловении во всем мире.

Diffractometer


Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)
This field is required
This field is required
Required and valid email address
This field is required
This field is required