фон

Рентгеноструктурный анализ поликристаллических образцов

2024-08-31 08:48

Рентгеноструктурный анализ поликристаллических образцов:


При облучении образца рентгеновскими лучами обычные детекторы используют канал для получения данных. Усовершенствованные одномерные матричные детекторы могут одновременно получать данные с 640 каналов, тем самым увеличивая скорость тестирования более чем в десять раз.


Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)
This field is required
This field is required
Required and valid email address
This field is required
This field is required