фон

Геометрия рентгеновской дифракции

2024-03-06 10:00

Использование рентгеновских лучей для изучения структуры кристаллов главным образом посредствомДифракция рентгеновского излученияявление в кристалле. Явление дифракции рентгеновских лучей в кристалле по существу является результатом интерференции между атомами и рентгеновскими лучами, когда рентгеновские лучи направляются на объект. Каждый тип кристалла дает свою характерную дифракционную картину, которая отражает распределение атомов внутри кристалла. Мы можем анализировать различные проблемы внутренней структуры кристалла с помощью явления дифракции, чтобы определить тип вещества, а также содержание вещества.


Уравнение Лауэ — это набор уравнений, выведенных из геометрических принциповдифракция и особенности периодического расположения кристаллов в трехмерном пространстве.

X-ray diffraction

Как видно из рисунка, когдаРентгеновскийпроецируется на трехмерный кристалл в направлении S0, три дифракционных кольца имеют единственную общую точку пересечения, а направление дифракции - от начала координат до направления S, указанного точкой пересечения. Следовательно, сигнал дифракции может быть получен под определенным углом после поворота детектора, что может быть отражено в характеристическом дифракционном спектре.

diffraction

Закон Брэгга

Считается, что кристалл состоит из атомных плоскостей, каждая из которых излучает рассеянный свет во всех направлениях на той же длине волны, что и падающий свет.

X-ray

1. Не все грани кристалла могут вызывать дифракцию. Грань кристалла может вызывать несколько стадий дифракции.

2. Когда длина волны постоянна, угол дифракции зависит только от размера ячейки и не зависит от конкретного состава кристалла.


Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)
This field is required
This field is required
Required and valid email address
This field is required
This field is required