Приспособление для средних и низких температур предназначено для изучения изменений в кристаллической структуре в процессе низкотемпературного охлаждения.

Приспособление для параллельного оптического измерения пленки увеличивает длину решетчатой ​​пластины, чтобы отфильтровать больше рассеянных линий, что позволяет снизить влияние сигнала подложки на результаты и повысить интенсивность сигнала пленки.

Рентгеновский облучатель может генерировать высокоэнергетические рентгеновские лучи для облучения клеток или мелких животных. Используется для различных фундаментальных и прикладных исследований. На протяжении всей истории использовались радиоактивные изотопные облучатели, которые требовали транспортировки образцов в основную установку облучения. Сегодня в лабораториях можно установить более компактное, безопасное, простое и недорогое рентгеновское облучательное оборудование для удобного и быстрого облучения клеток.

Высокотемпературные принадлежности предназначены для изучения изменений кристаллической структуры образцов при высокотемпературном нагреве, а также изменений во взаимном растворении различных веществ при высокотемпературном нагреве.

Рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов, широко используемый в таких популярных областях, как катализ, энергетика и нанотехнологии.

Рентгеновский кристаллоанализатор серии ТДФ — это крупногабаритный аналитический прибор, используемый для изучения внутренней микроструктуры веществ. Он в основном используется для ориентации монокристаллов, дефектоскопии, определения параметров решетки, определения остаточных напряжений, изучения структуры пластин и стержней, изучения структуры неизвестных веществ и дислокаций монокристаллов.

Высокомощный рентгеновский дифрактометр (настольный Рентгенодифракционный анализ) ТДМ-20 в основном используется для фазового анализа порошков, твердых веществ и подобных пастообразных материалов. Принцип рентгеновской дифракции может использоваться для качественного или количественного анализа, анализа кристаллической структуры и других поликристаллических материалов, таких как порошковые образцы и образцы металлов. Он широко используется в таких отраслях, как промышленность, сельское хозяйство, национальная оборона, фармацевтика, горнодобывающая промышленность, безопасность пищевых продуктов, нефть, образование и научные исследования.

Рентгеновский дифрактометр в основном используется для качественного и количественного анализа фаз, анализа кристаллической структуры, анализа структуры материалов, анализа ориентации кристаллов, определения макроскопического или микроскопического напряжения, определения размера зерна, определения кристалличности и т. д. образцов порошка, блока или пленки. Он произведен компанией Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО. и использует импортное управление Сименс ПЛК, что делает рентгеновский дифрактометр ТД-3500 обладающим характеристиками высокой точности, высокой достоверности, хорошей стабильности, длительного срока службы, простоты обновления, простоты эксплуатации и интеллекта, а также может гибко адаптироваться к анализу испытаний и исследованиям в различных отраслях промышленности!

Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр серии ТД-3700 является новым членом серии ТД, оснащенным различными высокопроизводительными детекторами, такими как высокоскоростные одномерные матричные детекторы, двумерные детекторы, СДД-детекторы и т. д. Он объединяет быстрый анализ, удобное управление и безопасность пользователя. Модульная аппаратная архитектура и настраиваемая программная система достигают идеального сочетания, делая его частоту отказов чрезвычайно низкой, антиинтерференционные характеристики хорошими и гарантируя долгосрочную стабильную работу высоковольтного источника питания.

Рентгеновский монокристаллический дифрактометр ТД-5000 в основном используется для определения трехмерной пространственной структуры и плотности электронного облака кристаллических веществ, таких как неорганические, органические и металлические комплексы, а также для анализа структуры специальных материалов, таких как двойникование, несоразмерные кристаллы, квазикристаллы и т. д. Определите точное трехмерное пространство (включая длину связи, угол связи, конфигурацию, конформацию и даже плотность электронов связи) новых молекул соединений (кристаллических) и фактическое расположение молекул в решетке; Он может предоставить информацию о параметрах кристаллической ячейки, пространственной группе, молекулярной структуре кристалла, межмолекулярных водородных связях и слабых взаимодействиях, а также структурную информацию, такую ​​как молекулярная конфигурация и конформация. Он широко используется в аналитических исследованиях в химической кристаллографии, молекулярной биологии, фармакологии, минералогии и материаловедении.