Тонкая структура поглощения рентгеновских лучей, как усовершенствованный метод определения характеристик для анализа локальной структуры материалов, может предоставить более точную информацию о координации атомной структуры в структурном диапазоне ближнего действия, чемРентгеновская дифракция кристаллов.
ДляРентгеновскийкривой поглощения неизолированных атомов, из-за когерентной суперпозиции фотоэлектронной волны, выходящей из центрального атома, и упругой волны обратного рассеяния, генерируемой соседним атомом, коэффициент линейного поглощения на высокоэнергетической стороне края поглощения отклоняется от монотонное изменение, образующее флуктуирующую колебательную структуру, связанную с длиной волны фотоэлектрона, типом и строением координационного атома.
Состав тонкой структуры поглощения рентгеновских лучей:
КСАНЕС:Поглощение атомной электронной структуры
ЭКСАФС:Информация о строении соседних координационных атомов поглощенных атомов.
