news

Рентгеновская флуоресценция полного отражения (TXRF) — это метод анализа поверхностных элементов, обычно используемый для анализа частиц, остатков и примесей на гладких поверхностях.

Рентгеновская дифракция (рентгеноструктурный анализ) в настоящее время является мощным методом изучения кристаллической структуры (например, типа и распределения атомов или ионов и их групп, формы и размера ячеек и т. д.).

Эта процедура является самостоятельной разработкой. Он содержит множество разработанных нами функций количественного анализа, которые соответствуют теории дифракции и рассчитываются по интегральной интенсивности.

В этой статье в основном обсуждаются некоторые важные вопросы, касающиеся «анализа программного обеспечения ДЖЕЙД и обработки данных XRD».