news

С 1990-х годов в исследовании материалов широко используется технология рентгеновской томографии с синхротронным излучением.

Рентгеновская абсорбционная спектроскопия — это спектральный метод анализа элементного состава и электронного состояния материалов с использованием изменений сигнала до и после воздействия рентгеновских лучей синхротронного излучения.

Синхротронное излучение — это электромагнитное излучение, возникающее в касательном направлении орбиты, когда электрон движется по высокоскоростной кривой, и которое можно использовать для проведения многих передовых научных и технологических исследований.

В 1912 году Лауэ и др. предсказанное теорией и подтвержденное экспериментом, что дифракция может произойти, когда рентгеновские лучи встречаются с кристаллом, доказав, что рентгеновские лучи обладают свойством электромагнитной волны, что стало первой вехой в дифракции рентгеновских лучей.

XAFS, как передовой метод определения характеристик для анализа локальной структуры материалов, может предоставить более точную информацию о координации атомной структуры в ближнем структурном диапазоне, чем рентгеновская дифракция кристаллов.

Рентгеновская дифракция — широко используемый неразрушающий аналитический метод, с помощью которого можно выявить кристаллическую структуру, химический состав и физические свойства веществ.

По изменению положения и интенсивности пиков рентгеновской дифракции - можно сделать вывод о промежуточных продуктах, образующихся в ходе цикла, и на основе этих промежуточных продуктов можно дополнительно определить механизм реакции.

Тонкая структура рентгеновского поглощения (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов на основе источника света синхротронного излучения.

Когда пучок чрезвычайно тонких рентгеновских лучей проходит через материал с неравномерной электронной плотностью нанометрового размера, рентгеновские лучи распространяются в небольшой угловой области вблизи направления исходного луча, это явление называется малоугловым X. -рассеяние лучей.