news

Необходимо снизить вредное остаточное напряжение и спрогнозировать тенденцию распределения и величину остаточного напряжения. В этой статье представлен метод неразрушающего контроля остаточного напряжения.

Рентгеновская дифракция (рентгеноструктурный анализ) в настоящее время является мощным методом изучения кристаллической структуры (например, типа и распределения атомов или ионов и их групп, формы и размера ячеек и т. д.).

Рентгеновская кристаллография — это метод, используемый для определения атомной и молекулярной структуры кристалла, при котором кристаллическая структура заставляет падающий рентгеновский луч дифрагировать во многих определенных направлениях.

Рентгеновский контроль — это метод неразрушающего контроля, который не повреждает сам объект и широко используется при тестировании материалов (КК), анализе отказов (ФА), контроле качества (КК), обеспечении качества и надежности (контроль качества/КК). контроль качества), исследования и разработки (НИОКР) и другие области.

Ниже представлены три одноточечных детектора: пропорциональный счетчик, сцинтилляционный счетчик и полупроводниковый твердотельный детектор.

Рентгеновские лучи — это тип коротковолнового электромагнитного излучения, промежуточный между ультрафиолетовыми и гамма-лучами, который был разработан немецким физиком В. К. Он был открыт Рентгеном в 1895 году, поэтому его также называют рентгеновскими лучами.

Рентгеновский дифрактометр в основном используется для фазовой характеристики, количественного анализа, анализа кристаллической структуры, анализа структуры материала, анализа ориентации кристаллов порошковых, блочных или тонкопленочных образцов.

Технология рентгеновской дифракции широко используется в химической промышленности, научных исследованиях, производстве материалов и других областях благодаря ее неразрушающему, экологически чистому, быстрому, высокоточному измерению и большому объему информации о целостности кристалла.

Характеристики и преимущества продукции серии рентгеновских дифрактометров компании Даньдун Тонгда Технологии.。