news

Принцип многих устройств для определения характеристик заключается в том, чтобы заставить электроны взаимодействовать с веществами, которые необходимо обнаружить, возбуждать вторичные электроны или совершать переходы и обратные переходы на атомных уровнях, а также высвобождать характеристическую энергию.

Рентгеновская флуоресценция полного отражения (TXRF) — это метод анализа поверхностных элементов, обычно используемый для анализа частиц, остатков и примесей на гладких поверхностях.

Дифракция рентгеновских лучей скользящего падения (GI-рентгеноструктурный анализ) представляет собой разновидность метода дифракции рентгеновских лучей, который отличается от традиционного эксперимента по рентгеновской дифракции главным образом изменением угла падения рентгеновских лучей и ориентации образца.

В последние годы широкое внимание уделяется методу рентгеновского малоуглового рассеяния биологических макромолекул. В этой статье в основном будет представлен соответствующий прогресс в сочетании биологического малого угла и других методов за последние годы.

Неразрушающий контроль основан на развитии современной науки и техники. С развитием современной промышленности применение неразрушающего контроля становится все более популярным.

На основе закона Брэгга рентгеновская дифракция в-местонахождение (рентгеноструктурный анализ) может использоваться для мониторинга изменения фазы и параметров ее решетки на электроде или на границе раздела электрод-электролит в реальном времени во время цикла заряда-разряда электролита. аккумулятор.

Приборы РФА используют рентгеновские лучи для «возбуждения» материала, чтобы охарактеризовать его состав путем идентификации элементов в образце (качественный анализ) или путем определения прочности элемента в образце (количественный анализ).