Рентгеновский дифрактометр, также известный как рентгеновский кристаллический дифрактометр, сокращенно XPD или XRD, представляет собой прибор для изучения внутренней микроструктуры вещества. Рентгеновский дифрактометр обладает такими преимуществами, как высокая точность, высокая стабильность и удобство в эксплуатации.