Рентгеновская дифракция на монокристаллах имеет важное значение в материаловении для анализа кристаллической структуры, идентификации фаз и анализа напряжений. Она позволяет проводить точную характеризацию на атомном уровне, поддерживает рациональное проектирование материалов и развивается благодаря новым технологиям, таким как синхротронное излучение и определение структуры с помощью искусственного интеллекта.