



Электронная почта
firefly@tongdatek.comТелефон
+86-415-6123805XAFS, как передовой метод определения характеристик для анализа локальной структуры материалов, может предоставить более точную информацию о координации атомной структуры в ближнем структурном диапазоне, чем рентгеновская дифракция кристаллов.
Электронная почтаБолее
Материал, в свойствах которого преобладают двумерные эффекты, свойства материала в двумерном масштабе отличаются от его свойств в более крупном масштабе.
Электронная почтаБолее
Остаточные напряжения оказывают большое влияние на стабильность размеров, устойчивость к коррозии под напряжением, усталостную прочность, фазовый переход и другие свойства материалов и компонентов. Его измерение вызвало широкую озабоченность в научных кругах и промышленности.
Электронная почтаБолее

Технология рентгеноструктурный анализ играет важную роль в исследованиях и разработках керамических материалов. Он обеспечивает надежную научную основу для синтеза, оптимизации процесса получения, улучшения характеристик и популяризации применения керамических материалов.
Электронная почтаБолее
Количественно оценить аморфную и кристаллическую фазы цементных материалов сложно из-за сложности минеральных фаз в смеси и значительного перекрывания пиков. Превосходные результаты могут быть получены путем уточнения измеренного образца по Ритвельду с использованием стандартных конфигураций измерения.
Электронная почтаБолее
Брэгговская стеклянная фаза представляет собой почти идеальную кристаллическую фазу со стеклообразными характеристиками, которая, как ожидается, возникает в вихревых решетках и системах волн зарядовой плотности при наличии беспорядка.
Электронная почтаБолее
В этой статье представлены соответствующие знания о кристаллическом узоре и кристаллическом фетише.
Электронная почтаБолее

Рентгеновская дифракционная спектроскопия в основном анализирует кристаллическое состояние и микроструктуру материалов, и для анализа кристаллов существует два метода рентгеновской дифракции.
Электронная почтаБолее