news

Рентгеновский дифрактометр ТД-3500 в основном используется для качественного и количественного анализа фаз, анализа кристаллической структуры, анализа структуры материалов, анализа ориентации кристаллов, определения макроскопического или микроскопического напряжения, определения размера зерна, определения кристалличности и т. д. образцов порошка, блока или пленки. Рентгеновский дифрактометр ТД-3500, произведенный компанией Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО., использует импортное управление Сименс ПЛК, что делает рентгеновский дифрактометр ТД-3500 обладающим характеристиками высокой точности, высокой достоверности, хорошей стабильности, длительного срока службы, простоты модернизации, простоты эксплуатации и интеллекта, а также может гибко адаптироваться к анализу испытаний и исследованиям в различных отраслях промышленности!   Рентгеновский дифрактометр ТД-3500 оснащен рентгеновским генератором (высокочастотный и высоковольтный твердотельный генератор, опционально генератор промышленной частоты), который имеет высокую степень автоматизации, чрезвычайно низкий уровень отказов, сильную помехоустойчивость, хорошую стабильность системы и может продлить срок службы всей машины. ПЛК и компьютерный интерфейс автоматически управляют открытием и закрытием светового затвора, автоматически управляют повышением и понижением давления в трубке и потоком в трубке, а также имеют функцию автоматического обучения рентгеновских трубок. Онлайн-мониторинг в реальном времени с использованием сенсорного экрана для отображения состояния прибора. Рентгеновский дифрактометр ТД-3500 использует усовершенствованный блок управления записью, схему управления ПЛК, усовершенствованную технологию управления ПЛК и сенсорный экран с истинным цветом для достижения взаимодействия человека и компьютера. Аппаратное обеспечение системы использует модульную концепцию проектирования, что значительно повышает помехоустойчивость системы и делает ее более стабильной. Благодаря использованию импортных схем управления Сименс ПЛК с высокой точностью и автоматизацией, система может работать стабильно в течение длительного времени без каких-либо сбоев. Система рентгеновского дифрактометра ТД-3500 имеет следующие преимущества по сравнению с микроконтроллерными схемами, используемыми другими компаниями: Простое управление схемой, простота отладки и установки; Благодаря модульной конструкции обслуживание системы очень простое, и пользователи могут ремонтировать и отлаживать ее самостоятельно без необходимости присутствия технических специалистов производителя; Использование усовершенствованного полноцветного сенсорного экрана для обеспечения взаимодействия человека с компьютером, с полными функциями защиты и очень удобным управлением, высокотрехмерный анимационный дизайн более гуманизирован, интуитивно понятен и удобен для операторов при использовании и оценке информации о неисправностях и т. д.; Значительно улучшена стабильность подсчета системы, тем самым повышая общую стабильность всей машины; Благодаря большой расширяемости ПЛК, можно легко расширять различные функциональные аксессуары без необходимости добавления каких-либо дополнительных аппаратных схем. Детектор рентгеновского дифрактометра ТД-3500 Пропорциональный детектор (ПД) или сцинтилляционный детектор (СД). Высокоточный прибор для измерения угла рентгеновского дифрактометра ТД-3500 Измерительный прибор серии ТД использует импортную высокоточную подшипниковую передачу, а управление движением дополняется высокоточной полностью замкнутой векторной сервосистемой привода. Интеллектуальный привод включает в себя 32-битный РИСК-микропроцессор и магнитный энкодер высокого разрешения, который может автоматически исправлять чрезвычайно малые ошибки положения движения, обеспечивая высокую точность и достоверность результатов измерения. Воспроизводимость угла может достигать 0,0001 градуса, а меньшие углы шага могут достигать 0,0001 градуса. Области применения рентгеновского дифрактометра ТД-3500: Материаловедение: используется для изучения ключевой информации, такой как кристаллическая структура, поведение фазовых переходов и текстура материалов. Химический анализ: может использоваться для качественного или количественного анализа органических, неорганических, полимерных соединений и других веществ. Геология: помогает людям понять формирование месторождений полезных ископаемых, эволюцию Земли и многое другое. Биофармацевтика: определение кристаллической структуры лекарственных препаратов, оптимизация лекарственных формул и повышение эффективности лекарственных препаратов. Рентгеновский дифрактометр — мощный аналитический инструмент, широко используемый во многих областях. Точно измеряя угол дифракции и интенсивность, он может предоставить подробную информацию о кристаллической структуре и составе материалов.

Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр -3700 является новым членом серии , оснащенным различными высокопроизводительными детекторами, такими как высокоскоростные одномерные матричные детекторы, двумерные детекторы, -детекторы и т. д. Он объединяет быстрый анализ, удобное управление и безопасность пользователя. Модульная аппаратная архитектура и настраиваемая программная система достигают идеального сочетания, делая его интенсивность отказов чрезвычайно низкой, антиинтерференционные характеристики хорошими и гарантируя долгосрочную стабильную работу высоковольтного источника питания. Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр -3700 поддерживает не только обычный метод сканирования дифракционных данных, но и метод сканирования данных пропускания. Разрешение режима пропускания намного выше, чем у режима дифракции, что подходит для структурного анализа и других областей. Режим дифракции имеет сильные дифракционные сигналы и больше подходит для рутинной идентификации фаз в лаборатории. Кроме того, в режиме пропускания образец порошка может находиться в следовых количествах, что подходит для сбора данных в случаях, когда размер образца относительно мал и не соответствует требованиям метода дифракции для подготовки образца. Матричный детектор полностью использует технологию смешанного счета фотонов, без шума, с быстрым сбором данных и более чем в десять раз большей скоростью, чем у сцинтилляционных детекторов. Он имеет превосходное энергетическое разрешение и может эффективно удалять эффекты флуоресценции. Многоканальные детекторы имеют более быстрое время считывания и достигают лучшего соотношения сигнал/шум. Система управления детектором с электронным стробированием и внешним запуском эффективно завершает синхронизацию системы. Принцип работы рентгеновского дифрактометра высокого разрешения -3700: Используя флуктуацию рентгеновских лучей, когда они облучают кристалл, атомы или ионы в кристалле действуют как рассеивающие центры, рассеивая рентгеновские лучи во всех направлениях. Из-за регулярности расположения атомов в кристаллах эти рассеянные волны интерферируют друг с другом и усиливают друг друга в определенных направлениях, образуя дифракцию. Измеряя угол дифракции и интенсивность дифракции, можно получить структурную информацию о кристалле. Основными особенностями рентгеновского дифрактометра высокого разрешения -3700 являются: (1) Простая в эксплуатации система сбора одним щелчком; (2) Модульная конструкция, подключаемые и работающие принадлежности, нет необходимости в калибровке; (3) Онлайн-мониторинг в режиме реального времени с использованием сенсорного экрана для отображения состояния прибора; (4) Электронное устройство блокировки свинцовой двери, двойная защита, обеспечивающая безопасность пользователя; (5) Высокочастотный и высоковольтный рентгеновский генератор со стабильной и надежной работой; (6) Усовершенствованный блок управления записью с высокой помехоустойчивостью. Высокая точность рентгеновского дифрактометра высокого разрешения -3700 позволяет проводить высокоточный анализ кристаллической структуры материалов, например, точно определять постоянные решетки, параметры ячейки и т. д. Точность измерения углов может достигать ±0,0001°. Высокое разрешение рентгеновского дифрактометра -3700 позволяет четко различать соседние дифракционные пики, точно анализировать дифракционную информацию различных кристаллических плоскостей для сложных кристаллических структур и выявлять микроструктурные характеристики материалов. Неразрушающий характер рентгеновского дифрактометра высокого разрешения -3700: он не повреждает образец в процессе тестирования, и образец можно сохранять в исходном состоянии для многократных испытаний, что особенно важно для ценных или труднодоступных образцов. Экспресс-анализ на рентгеновском дифрактометре высокого разрешения -3700: Современные рентгеновские дифрактометры высокого разрешения обладают быстрыми возможностями обнаружения и могут выполнять испытания образцов за короткий промежуток времени, что повышает эффективность работы. 3. Области применения рентгеновского дифрактометра высокого разрешения ТД-3700: Полупроводниковые материалы: используются для определения качества кристаллов полупроводниковых монокристаллических материалов и эпитаксиальных тонких пленок, анализа несоответствия кристаллической решетки, дефектов и другой информации, что помогает оптимизировать производительность полупроводниковых приборов. Сверхпроводящие материалы: изучение кристаллической структуры и процесса фазового перехода сверхпроводящих материалов с целью создания основы для оптимизации сверхпроводящих свойств. Наноматериалы: анализ размера зерна, кристаллической структуры, микроскопической деформации и т. д. наноматериалов помогает исследователям лучше понять их свойства и области применения. Другие области: Он также широко используется в исследованиях и контроле качества металлических материалов, керамических материалов, полимерных материалов, биоматериалов и других областях. Высокоточный рентгеновский дифрактометр с высоким разрешением — это высокоточный, неразрушающий и быстрый аналитический инструмент с важным прикладным значением во многих областях.

1. Функция монокристаллического дифрактометра: Рентгеновский монокристаллический дифрактометр ТД-5000 в основном используется для определения трехмерной пространственной структуры и плотности электронного облака кристаллических веществ, таких как неорганические, органические и металлические комплексы, а также для анализа структуры специальных материалов, таких как двойникование, несоразмерные кристаллы, квазикристаллы и т. д. Определите точное трехмерное пространство (включая длину связи, угол связи, конфигурацию, конформацию и даже плотность электронов связи) новых молекул соединений (кристаллических) и фактическое расположение молекул в решетке; рентгеновский монокристаллический дифрактометр может предоставить информацию о параметрах кристаллической ячейки, пространственной группе, молекулярной структуре кристалла, межмолекулярных водородных связях и слабых взаимодействиях, а также структурную информацию, такую ​​как молекулярная конфигурация и конформация. Рентгеновский монокристаллический дифрактометр широко используется в аналитических исследованиях в химической кристаллографии, молекулярной биологии, фармакологии, минералогии и материаловедении. Рентгеновский монокристаллический дифрактометр — это высокотехнологичный продукт, финансируемый Министерством науки и технологий Китая в рамках Национального проекта по разработке крупных научных приборов и оборудования под руководством компании Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО., который заполняет пробел в разработке и производстве монокристаллических дифрактометров в Китае. 2. Характеристики монокристаллического дифрактометра: Вся машина использует технологию управления с программируемым логическим контроллером (ПЛК); Простая в эксплуатации система сбора одним щелчком; Модульная конструкция, аксессуары «затыкать и играть», нет необходимости в калибровке; Онлайн-мониторинг в режиме реального времени через сенсорный экран, отображение состояния прибора; Мощный рентгеновский генератор со стабильной и надежной работой; Электронное устройство блокировки свинцовой двери, двойная защита. 3. Точность монокристаллического дифрактометра: 2 Точность повторяемости угла θ: 0,0001 °; Минимальный шаг угла: 0,0001 ° Диапазон регулирования температуры: 100К-300К; Точность регулирования: ± 0,3К 4. Прибор для измерения угла, используемый в монокристаллическом дифрактометре: Использование техники четырех концентрических окружностей гарантирует, что центр инструмента для измерения угла остается неизменным независимо от любого вращения, достигая цели получения наиболее точных данных и получения более высокой полноты. Четыре концентрических окружности являются необходимым условием для сканирования обычного монокристаллического дифрактометра. 5. Высокоскоростной двумерный детектор, используемый в рентгеновском монокристаллическом дифрактометре: Детектор объединяет ключевые технологии подсчета отдельных фотонов и смешанную пиксельную технологию для достижения наилучшего качества данных, обеспечивая при этом низкое энергопотребление и низкое охлаждение. Он применяется в различных областях, таких как синхротронное излучение и обычные лабораторные источники света, эффективно устраняя помехи шума считывания и темнового тока. Смешанная пиксельная технология может напрямую обнаруживать рентгеновские лучи, облегчая различение сигнала и эффективно предоставляя высококачественные данные. 6. Низкотемпературное оборудование, используемое в рентгеновском монокристаллическом дифрактометре: Данные, собранные с помощью низкотемпературного оборудования, дают более идеальные результаты. С помощью низкотемпературного оборудования можно обеспечить более выгодные условия, чтобы нежелательные кристаллы могли получить идеальные результаты, а идеальные кристаллы могли бы получить еще более идеальные результаты. Диапазон регулирования температуры: 100К~300К; Точность регулирования: ± 0,3К; Расход жидкого азота: 1,1~2 литра/час; 7. Дополнительный аксессуар, многослойная пленочная фокусирующая линза: Мощность рентгеновской трубки: 30 Вт или 50 Вт и т.д.; Расходимость: 0,5~1 мрад; Материал мишени рентгеновской трубки: мишень Мо/Cu; Фокусное пятно: 0,5~2 мм.

Спектр тонкой структуры рентгеновского поглощения (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов, широко используемый в таких популярных областях, как катализ, энергетика и нанотехнологии. Принцип тонкой структуры рентгеновского абсорбционного спектра (XAFS): Тонкая структура поглощения рентгеновских лучей Спектр относится к спектрам высокого разрешения вблизи характерных краев атомных электронов, поглощающих рентгеновские лучи. Когда энергия рентгеновских лучей такая же, как энергия возбуждения электронов внутренней оболочки измеряемого элемента, они будут сильно поглощаться, что приведет к пределу поглощения (или краю поглощения). Вблизи края поглощения, из-за многократного рассеяния и других причин, коэффициент поглощения рентгеновских лучей будет демонстрировать колебательные явления, а именно тонкую структуру. 2. Основные преимущества рентгеновского абсорбционного тонкоструктурного спектра (XAFS): (1) Самый высокий световой поток продукта, с потоком фотонов, превышающим 1000000 фотонов/сек/эВ, и спектральной эффективностью, в несколько раз превышающей другие продукты; Получение качества данных, эквивалентного синхротронному излучению (2) Отличная стабильность, стабильность интенсивности монохроматического света источника света лучше 0,1%, а повторный дрейф энергии составляет менее 50 мэВ. (3) Предел обнаружения 1%, высокий световой поток, превосходная оптимизация оптического пути и превосходная стабильность источника света гарантируют, что высококачественные данные EXAFS могут быть получены даже при измеренном содержании элемента >1%. 3. Области применения XAFS: Промышленный катализ, материалы для хранения энергии, наноматериалы, экологическая токсикология, качественный анализ, анализ тяжелых элементов и т. д. 4. Основные особенности XAFS: (1) Короткий порядок: EXAFS зависит от ближних взаимодействий и не полагается на дальний порядок. XAFS можно использовать для изучения структуры неупорядоченных систем, таких как аморфные, жидкие, расплавленные и активные центры катализаторов. (2) Специфичность элементов: метод флуоресценции может быть использован для измерения образцов элементов с концентрацией вплоть до одной миллионной. Регулируя энергию падающего рентгеновского излучения, можно изучать соседние структуры атомов различных элементов в одном соединении. (3) Характеристики поляризации: поляризованные рентгеновские лучи можно использовать для измерения углов связи атомов и структур поверхности в ориентированных образцах. Спектр тонкой структуры рентгеновского поглощения, обладающий уникальными принципами, важными характеристиками и широкими областями применения, стал незаменимым и важным инструментом во многих областях, таких как материаловедение, каталитическая химия и энергетические исследования, обеспечивая надежную поддержку для углубленного изучения микроструктур материалов и электронных состояний.

Вращающийся держатель образца в рентгеновском дифрактометре является ключевым компонентом, используемым для точной регулировки и фиксации положения образца, образец может вращаться в своей собственной плоскости, что полезно для ошибок, вызванных крупными зернами. Для образцов с текстурой и кристаллографией вращающийся держатель образца обеспечивает хорошую воспроизводимость интенсивности дифракции и устраняет предпочтительную ориентацию. Принцип работы вращающегося держателя образца: При работе рентгеновского дифрактометра рентгеновские лучи высокой энергии, генерируемые источником рентгеновского излучения, облучают образец, закрепленный на вращающемся предметном столике. Вследствие особой кристаллической структуры и параметров решетки образца рентгеновские лучи будут подвергаться явлениям рассеяния, поглощения и дифракции при взаимодействии с образцом, где явления дифракции происходят в соответствии с требованиями уравнения Брэгга. Вращающийся держатель образца может вращаться на меньшие углы в соответствии с настройкой, позволяя образцу получать рентгеновское облучение под разными углами, тем самым получая дифракционные картины под разными углами. Таким образом, детектор может измерять интенсивность рентгеновского излучения после дифракции образца и преобразовывать ее в электрический сигнал для передачи на компьютер для обработки данных. Основная функция вращающегося держателя образцов: Метод вращения: ось β (плоскость образца) Скорость вращения: 1~60 об/мин Ширина малого шага: 0,1 º Режим работы: Вращение с постоянной скоростью для сканирования образца (шаговое, непрерывное) Преимущества вращающегося держателя образцов: Вращающийся держатель образца может повысить точность дифракционных данных: Для образцов с нерегулярной формой порошка или частиц, характеристика предпочтительной ориентации склонна возникать во время обычной подготовки порошковых образцов, что приводит к отклонениям в распределении интенсивности дифракции и влияет на точность анализа результатов дифракции. Вращение столика образца может перемещать образец в определенной форме в соответствующем пространстве, устраняя влияние предпочтительной ориентации в определенной степени, тем самым повышая точность дифракционных данных. Вращающийся держатель образца может адаптироваться к различным потребностям тестирования: способен адаптироваться к различным типам приборов для измерения угла рентгеновской дифракции, таким как приборы для измерения вертикального угла, маломощное компактное оборудование для порошковой дифракции и т. д., обеспечивая удобство для различных потребностей тестирования. А вращающийся держатель образца может соответствовать требованиям различных образцов и условий тестирования путем регулировки таких параметров, как скорость и управление. Вращающийся держатель образца может расширить аналитические возможности прибора: постоянно разрабатываются и применяются новые типы вращающихся столиков для образцов, например, некоторые столики для электрохимического рентгеновского дифракционного анализа в место, которые позволяют отслеживать и анализировать изменения материалов в различных средах или условиях в режиме реального времени, расширяя аналитические возможности рентгеновского дифракционного оборудования. Подводя итог, можно сказать, что вращающийся держатель образца в рентгеновском дифрактометре имеет решающее значение для точного получения информации о кристаллической структуре веществ. Вращающийся держатель образца может не только повысить точность дифракционных данных, но и адаптироваться к различным потребностям испытаний и расширить аналитические возможности прибора.

В рентгеновском дифрактометре многофункциональные интегрированные измерительные принадлежности являются важнейшим компонентом, который значительно повышает функциональность и гибкость прибора. Используется для анализа пленок на платах, блоках и подложках и может выполнять такие тесты, как определение кристаллической фазы, ориентации, текстуры, напряжения и структуры тонких пленок в плоскости. Базовый обзор многофункциональных интегрированных измерительных принадлежностей: Определение: Это общий термин для ряда дополнительных устройств или модулей, используемых в рентгеновском дифрактометре для расширения функций прибора, повышения точности и эффективности измерений. Назначение: Эти насадки позволяют рентгеновскому дифрактометру удовлетворять более широкий спектр экспериментальных потребностей и предоставлять более полную и точную информацию о структуре материалов. Функциональные характеристики многофункциональных интегрированных измерительных принадлежностей: Выполнить тестирование полярной диаграммы с использованием методов пропускания или отражения; Стресс-тестирование можно проводить с использованием метода параллельного наклона или метода того же наклона; Испытание тонких пленок (вращение образца в плоскости). Технические характеристики многофункциональных интегрированных измерительных принадлежностей: Высокая точность: обычно они используют передовые технологии датчиков и системы управления для обеспечения высокой точности и повторяемости измерений. Автоматизация: многие насадки поддерживают автоматизированные операции и могут быть легко интегрированы с хостом рентгеновского дифрактометра для выполнения измерений одним щелчком мыши. Модульная конструкция: позволяет пользователям выбирать и комбинировать различные вспомогательные модули в соответствии с их реальными потребностями. Области применения многофункциональных интегрированных измерительных принадлежностей: Широко используется в таких областях, как материаловедение, физика, химия, биология и геология; Оценка сборных металлических конструкций, таких как прокатные листы; Оценка ориентации керамики; Оценка приоритетной ориентации кристаллов в тонкопленочных образцах; Испытания на остаточные напряжения различных металлических и керамических материалов (оценка износостойкости, стойкости к резанию и т.д.); Испытание на остаточное напряжение многослойных пленок (оценка отслаивания пленки и т.п.); Анализ поверхностного окисления и нитридных пленок на высокотемпературных сверхпроводящих материалах, таких как тонкие пленки и металлические пластины; Стекло Си. Анализ многослойных пленок на металлических подложках (магнитные тонкие пленки, пленки для упрочнения поверхности металлов и т. д.); Анализ гальванических материалов, таких как макромолекулярные материалы, бумага и линзы. Многофункциональные интегрированные измерительные принадлежности в рентгеновском дифрактометре являются ключом к улучшению производительности прибора. Они не только улучшают функциональность прибора, но и повышают точность и эффективность измерений, предоставляя исследователям более комплексные и глубокие методы анализа материалов. С непрерывным развитием технологий эти принадлежности будут продолжать играть важную роль в содействии научным исследованиям в смежных областях для достижения большего количества прорывов.

Рентгеновский облучатель генерирует высокоэнергетические рентгеновские лучи для облучения целевых объектов или биологических тканей. Генерация рентгеновских лучей обычно достигается путем ускорения электронов для столкновения с металлическими мишенями (такими как вольфрам, медь и т. д.), генерации тормозного излучения и формирования рентгеновских пучков, которые затем облучают клетки или мелких животных. Рентгеновский облучатель используется для различных фундаментальных и прикладных исследований. Исторически использовались радиоактивные изотопные облучатели, которые требовали транспортировки образцов в основную установку для облучения. Однако сегодня в лабораториях можно установить более компактный, безопасный, простой и недорогой рентгеновский облучатель для удобного и быстрого облучения клеток. Различные образцы можно напрямую облучать в лаборатории, не влияя на фертильность или безопасность. Рентгеновский облучатель удобен для персонала, который не прошел профессиональную подготовку по рентгенологии, и нет дорогостоящих заявлений на получение лицензии или затрат на безопасность или обслуживание источника излучения. Рентгеновский облучатель прост в эксплуатации, безопасен, надежен и экономически эффективен и может заменить источники радиоактивных изотопов. 1. Основные области применения рентгеновского облучателя включают медицинскую сферу, сферу научных исследований и т. д. 2. Меры предосторожности при работе с рентгеновским оборудованием: Защита от радиации: операторам необходимо носить защитную одежду, чтобы избежать длительного воздействия рентгеновского излучения. Техническое обслуживание оборудования: Регулярно проверяйте оборудование, чтобы убедиться в его нормальной работе и предотвратить утечку радиации. Контроль дозы: Строго контролируйте дозу облучения, чтобы избежать ненужного вреда образцу или организму человека.

Принцип действия и применение переносной рентгеновской испытательной машины для сварки неразрушающий контроль: Переносной рентгеновский сварочный испытательный аппарат неразрушающий контроль использует акустические, оптические, магнитные и электрические свойства материалов для обнаружения дефектов или неровностей в испытываемом объекте без повреждения или ухудшения его характеристик. Он предоставляет информацию о размере, местоположении, характере и количестве дефектов. По сравнению с разрушающим контролем неразрушающий контроль имеет следующие характеристики. Первый — неразрушающий, так как он не ухудшает характеристики обнаруженного объекта во время тестирования; Второй — всесторонний, так как обнаружение является неразрушающим, необходимо провести 100%-ное всестороннее обнаружение испытываемого объекта, чего невозможно достичь разрушающим контролем; Третий — всесторонний, и разрушающий контроль, как правило, применим только к испытанию сырья, такого как растяжение, сжатие, изгиб и т. д., обычно используемого в машиностроении. Разрушающий контроль проводится на производственном сырье, а для готовых изделий и предметов, находящихся в употреблении, разрушающий контроль не может быть проведен, если они не предназначены для дальнейшего использования. Неразрушающий контроль, с другой стороны, не ухудшает характеристики испытываемого объекта. Таким образом, он может не только выполнять полное тестирование технологического процесса производства сырья, промежуточных процессов и даже готовой продукции, но и тестировать оборудование, находящееся в эксплуатации. Характеристики портативной рентгеновской испытательной машины для сварки неразрушающий контроль: Рентгеновский генератор имеет небольшой объем, заземленный анод и принудительное охлаждение вентилятором; ◆ Легкий, удобный для переноски и простой в эксплуатации; Работа и отдых в соотношении 1:1; Красивый внешний вид и разумная структура; ◆ Отсроченное воздействие для обеспечения безопасности оператора; Основное назначение портативной рентгеновской испытательной машины для сварки неразрушающий контроль: Основным назначением оборудования является проверка качества обработки и сварки материалов и компонентов, таких как корпуса судов, трубопроводы, сосуды высокого давления, котлы, самолеты, транспортные средства и мосты в таких отраслях промышленности, как национальная оборона, судостроение, нефтяная, химическая, машиностроительная, аэрокосмическая и строительная, а также внутренних дефектов и внутреннего качества различных легких металлов, резины, керамики и т. д.

Ориентатор рентгеновского кристалла работает по принципу рентгеновской дифракции. Высокое напряжение, генерируемое высоковольтным трансформатором, воздействует на рентгеновскую трубку, производя рентгеновские лучи. Когда рентгеновские лучи облучают образец, дифракция происходит, когда выполняется условие дифракции Брэгга (n λ=2dsin θ). Среди них λ — длина волны рентгеновских лучей, d — расстояние между атомными плоскостями внутри кристалла, а θ — угол между падающими рентгеновскими лучами и кристаллической плоскостью. Линия дифракции принимается счетной трубкой и отображается на микроамперметре усилителя. При использовании монохроматора линия дифракции монохроматизируется, затем принимается счетчиком и отображается на микроамперметре усилителя, тем самым повышая точность измерений. Рентгеновский кристаллоориентатор позволяет точно и быстро определять угол резки природных и искусственных монокристаллов (пьезоэлектрических кристаллов, оптических кристаллов, лазерных кристаллов, полупроводниковых кристаллов) и оснащен режущим станком для направленной резки вышеуказанных кристаллов. Рентгеновский кристаллоориентатор является незаменимым инструментом для прецизионной обработки и изготовления кристаллических приборов. Рентгеновский кристаллоориентатор широко используется в исследовательской, обрабатывающей и производственной отраслях промышленности кристаллических материалов. Рентгеновский кристаллический ориентатор прост в эксплуатации, не требует профессиональных знаний или квалифицированных методов, отображает угол в цифровом виде, прост для наблюдения и снижает ошибки считывания. Дисплей рентгеновского кристаллического ориентационного прибора может быть обнулён в любом положении, что позволяет легко отображать значение отклонения угла чипа. Двойной угловой измерительный прибор может работать одновременно, что повышает эффективность. Рентгеновский кристаллический ориентатор имеет специальный интегратор с пиковым усилением, что повышает точность обнаружения. Интеграция рентгеновской трубки и высоковольтного кабеля повышает надежность высокого напряжения. Высоковольтный детектор использует модуль высокого напряжения постоянного тока и плату образца вакуумного всасывания, что повышает точность и скорость измерения угла. В целом рентгеновский ориентатор кристаллов представляет собой прецизионный прибор, работающий на принципе рентгеновской дифракции, который обеспечивает важную техническую поддержку для исследования кристаллических материалов и связанных с ними приложений за счет точного измерения угла среза кристаллов.

Настольный рентгеновский дифрактометр ТДМ-20 использует новый высокопроизводительный матричный детектор, и загрузка этого детектора значительно улучшила общую производительность машины. Настольный рентгеновский дифрактометр ТДМ-20 в основном используется для фазового анализа порошков, твердых веществ и подобных пастообразных материалов. Настольный рентгеновский дифрактометр ТДМ-20 использует принцип рентгеновской дифракции для проведения качественного или количественного анализа, анализа кристаллической структуры и других поликристаллических материалов, таких как порошковые образцы и образцы металлов. Настольный рентгеновский дифрактометр широко используется в таких отраслях, как промышленность, сельское хозяйство, национальная оборона, фармацевтика, минералы, безопасность пищевых продуктов, нефть, образование и научные исследования.