Новости отрасли

Рентгенодифракционный анализ порошков позволяет проводить неразрушающий анализ остаточных напряжений путем обнаружения деформации кристаллической решетки по сдвигам дифракционных пиков с использованием метода фиксированного ψ и закона Гука. Это имеет решающее значение для материаловедения, аэрокосмической, автомобильной и производственной отраслей.

Настольные рентгеновские дифрактометры играют важнейшую роль в контроле качества, обеспечивая неразрушающий и точный анализ кристаллической структуры, состава и напряжений материалов. Они позволяют обнаруживать дефекты, оптимизировать процессы и анализировать отказы на всех этапах исследований и разработок, а также в производстве, повышая эффективность, надежность и соответствие нормативным требованиям.

Рентгеновский дифрактометр для монокристаллов позволяет определить трехмерную атомную структуру путем анализа дифракционных картин рентгеновских лучей (закон Брэгга). Благодаря сбору данных, преобразованию Фурье и уточнению модели, он генерирует карты электронной плотности для определения молекулярных конфигураций.

В данном руководстве подробно описана схема эксперимента по рентгеновской абсорбционной спектроскопии (XAS), особое внимание уделяется равномерной подготовке образцов (например, измельчению, разбавлению, инертной обработке) и точному контролю измерений (например, диапазонам сканирования, параметрам пучка, усреднению данных). Правильное выполнение эксперимента обеспечивает получение достоверных данных о локальной атомной структуре, что крайне важно для исследований в области катализа и энергетических материалов.

Рентгеновская абсорбционная спектроскопия (XAS) — передовая методика, основанная на использовании синхротронного излучения, которая анализирует поглощение рентгеновских лучей для неразрушающего выявления локальных электронных состояний и геометрических структур на атомном уровне (с помощью КСАНЕС и ЭКСАФС) и широко используется в исследованиях материалов и энергетики.

Для получения качественного монокристалла для рентгеновской дифракции необходим оптимальный выбор растворителя (умеренная растворимость/летучесть), правильный метод выращивания (испарение/диффузия), высокая чистота образца и отсутствие вибраций в окружающей среде для обеспечения четко определенной морфологии и минимального количества дефектов.

В данной статье подробно описана комплексная трехступенчатая стратегия устранения дифракционных помех более высокого порядка при рентгеноструктурном анализе монокристаллов. Методы включают аппаратную фильтрацию на источнике с использованием монохроматоров и щелей, оптимизацию параметров во время сбора данных для подавления обнаружения и программные алгоритмы коррекции остаточных эффектов при обработке данных. Этот комбинированный подход обеспечивает высокоточное определение кристаллической структуры за счет контроля ошибок интенсивности.

Рентгенодифракционные анализаторы используют закон Брэгга для измерения углов дифракции, что позволяет неразрушающим методом определять кристаллические фазы, постоянные решетки, размер зерен и напряжения на основе изменений межплоскостного расстояния.

Физические основы рентгеновского дифрактометра (для измерения напряжений): подробный вывод геометрии дифракции и соотношения напряжение-деформация.

Рентгенодифракционные спектроскопии высокого разрешения нового поколения сокращают энергопотребление за счет модернизации оборудования, интеллектуального управления и полного управления жизненным циклом, сохраняя точность при одновременном снижении затрат и выбросов для экологически ответственных лабораторий.