Волоконные аксессуары тестируются на их уникальную кристаллическую структуру с использованием метода рентгеновской дифракции (пропускания). Тестируйте ориентацию образца на основе таких данных, как текстура волокна и ширина половины пика.

Рентгеновский кристаллоанализатор серии ТДФ — это крупногабаритный аналитический прибор и рентгеновский прибор, используемый для изучения внутренней микроструктуры материалов. Он в основном используется для ориентации монокристаллов, дефектоскопии, определения параметров решетки, определения остаточных напряжений, изучения структуры пластин и стержней, изучения структуры неизвестных веществ и дислокаций монокристаллов.

Рентгеновский монокристаллический дифрактометр ТД-5000 в основном используется для определения трехмерной пространственной структуры и плотности электронного облака кристаллических веществ, таких как неорганические, органические и металлические комплексы, а также для анализа структуры специальных материалов, таких как двойникование, несоразмерные кристаллы, квазикристаллы и т. д. Определите точное трехмерное пространство (включая длину связи, угол связи, конфигурацию, конформацию и даже плотность электронов связи) новых молекул соединений (кристаллических) и фактическое расположение молекул в решетке; Он может предоставить информацию о параметрах кристаллической ячейки, пространственной группе, молекулярной структуре кристалла, межмолекулярных водородных связях и слабых взаимодействиях, а также структурную информацию, такую ​​как молекулярная конфигурация и конформация. Рентгеновский монокристаллический дифрактометр широко используется в аналитических исследованиях в химической кристаллографии, молекулярной биологии, фармакологии, минералогии и материаловедении. Монокристаллический рентгеновский дифрактометр — это высокотехнологичный продукт в рамках Национального проекта по разработке крупных научных приборов и оборудования Министерства науки и технологий, возглавляемого компанией Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО., который заполняет пробел в разработке и производстве монокристаллических рентгеновских дифрактометров в Китае.

Порошковый рентгеновский дифрактометр в основном используется для качественного и количественного анализа фаз, анализа кристаллической структуры, анализа структуры материала, анализа ориентации кристаллов, определения макроскопического или микроскопического напряжения, определения размера зерна, определения кристалличности и т. д. образцов порошка, блока или пленки. Рентгеновский дифрактометр ТД-3500, производимый компанией Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО., использует импортное управление Сименс ПЛК, что делает рентгеновский дифрактометр ТД-3500 высокоточным, высокоточным, хорошо стабильным, длительным сроком службы, простым обновлением, простым управлением и интеллектом, а также может гибко адаптироваться к анализу испытаний и исследованиям в различных отраслях промышленности!

Рентгеновский дифрактометр ТД-3700 — это высокопроизводительный и многофункциональный рентгеновский дифрактометр, произведенный компанией Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО. Основными характеристиками являются высокопроизводительные детекторы, разнообразные методы сканирования, удобная и безопасная эксплуатация, стабильная и надежная работа. Для получения подробной информации посетите веб-сайт компании Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО.

Приспособление для средних и низких температур предназначено для изучения изменений в кристаллической структуре в процессе низкотемпературного охлаждения.

Приспособление для параллельного оптического измерения пленки увеличивает длину решетчатой ​​пластины, чтобы отфильтровать больше рассеянных линий, что позволяет снизить влияние сигнала подложки на результаты и повысить интенсивность сигнала пленки.

Рентгеновский облучатель может генерировать высокоэнергетические рентгеновские лучи для облучения клеток или мелких животных. Используется для различных фундаментальных и прикладных исследований. На протяжении всей истории использовались радиоактивные изотопные облучатели, которые требовали транспортировки образцов в основную установку облучения. Сегодня в лабораториях можно установить более компактное, безопасное, простое и недорогое рентгеновское облучательное оборудование для удобного и быстрого облучения клеток.

Высокотемпературные принадлежности предназначены для изучения изменений кристаллической структуры образцов при высокотемпературном нагреве, а также изменений во взаимном растворении различных веществ при высокотемпературном нагреве.

Рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов, широко используемый в таких популярных областях, как катализ, энергетика и нанотехнологии.

Рентгеновский монокристаллический дифрактометр ТД-5000 – высокопроизводительный прибор, разработанный компанией Даньдун Тонгда Технология. Одобренный в рамках Государственного проекта Китая по разработке ключевых научных приборов и оборудования, он заполняет критически важный пробел в этой области. Его основная функция – определение трёхмерной пространственной структуры и распределения электронной плотности кристаллических веществ, включая неорганические соединения, органические соединения и металлокомплексы, а также анализ структуры специальных материалов, таких как двойниковые кристаллы, несоразмерно модулированные структуры и квазикристаллы. Он точно измеряет трёхмерную пространственную структуру новых кристаллических соединений (включая длины связей, валентные углы, конфигурацию, конформацию и плотность электронов связей), а также фактическое расположение молекул в кристаллической решётке. Система предоставляет исчерпывающую структурную информацию, такую как параметры элементарной ячейки, пространственная группа, молекулярная структура, межмолекулярные водородные связи и слабые взаимодействия, а также молекулярная конфигурация/конформация. Он широко используется для аналитических исследований в области химической кристаллографии, молекулярной биологии, фармакологии, минералогии и материаловедения. Базовая технология: двойная революция в точности и интеллекте (1) «Механический глаз» с позиционированием на атомном уровне Четырехкружный концентрический дифрактометр: преодолевает традиционные ограничения механического смещения, поддерживая постоянный центр вращения, что гарантирует погрешность координат пятна дифракции ниже уровня нанометров. Детектор ПИЛАТУС: сочетает технологию счёта отдельных фотонов с ультратонкими пикселями размером 172 мкм. Частота кадров достигает 20 Гц, а шумоподавление в 3 раза выше, чем у обычных ПЗС-детекторов. (2) Полностью интеллектуальный замкнутый рабочий процесс Управление одним касанием ПЛК: автоматизирует весь процесс от позиционирования кристалла до сбора данных, сокращая время ручных операций на 90%. Система криогенного улучшения: обеспечивает точность регулировки температуры ±0,3 К (100–300 К), увеличивая интенсивность сигнала для слабодифрагирующих кристаллов на 50% при расходе жидкого азота всего 1,1–2 л/ч. (3) Двойная гарантия: безопасность и расширяемость Блокировка двери + защита от утечек (≤0,12 мкЗв/ч), что превышает национальные стандарты безопасности. Дополнительная многослойная фокусирующая оптика (двойная мишень Мо/Cu), позволяющая проводить полномасштабный анализ от фармацевтических препаратов с малыми молекулами до минералов с большими элементарными ячейками. Появление рентгеновского монокристального дифрактометра ТД-5000 знаменует собой нечто большее, чем просто прорыв в области приборостроения — оно знаменует собой начало эпохи, когда передовое научно-исследовательское оборудование Китая официально достигло уровня автономного точного определения. По состоянию на 2025 год эта система обслуживала более 30 ведущих институтов в различных областях, включая химию, материаловедение и аэрокосмическую промышленность. По мере того, как кристаллы раскрывают тайны жизни под пристальным взглядом приборов отечественной разработки, китайский научный «глаз, постигающий сущность материи» теперь сияет с ослепительной ясностью.

Рентгеновский кристаллоанализатор серии ТДФ — это крупногабаритный аналитический прибор, используемый для изучения внутренней микроструктуры веществ. Он в основном используется для ориентации монокристаллов, дефектоскопии, определения параметров решетки, определения остаточных напряжений, изучения структуры пластин и стержней, изучения структуры неизвестных веществ и дислокаций монокристаллов.