Тонкая структура рентгеновского поглощения (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов на основе источника света синхротронного излучения.

С Женским днём! В этот счастливый праздник у вас может быть счастливый и приятный праздник! Наслаждайтесь, отдыхайте и отдыхайте! Надеюсь, вы будете счастливы каждый день, всегда иметь хорошее настроение!

Чтобы продемонстрировать хороший стиль энергичного развития компании Даньдун Тонгда, укрепить дружбу и повысить сплоченность, компания организовала групповое мероприятие с 30 по 31 января 2024 года.

Рентгеновская дифракционная спектроскопия в основном анализирует кристаллическое состояние и микроструктуру материалов, и для анализа кристаллов существует два метода рентгеновской дифракции.

Автоматический рентгеновский ориентационный прибор является незаменимым инструментом для точной обработки и изготовления кристаллических устройств. Он широко используется при исследовании, обработке и производстве кристаллических материалов.

Состав дифракционной картины в основном определяется положением и интенсивностью дифракционного пика, а наш анализ рентгенограммы основан на изменениях интенсивности и положения для объяснения изменений микро- и макроструктуры материала.

Рентгеновский дифрактометр — прецизионный прибор, используемый для изучения кристаллической структуры, морфологии и свойств вещества. В процессе упаковки и транспортировки необходимо принять определенные меры, чтобы гарантировать, что безопасность и производительность прибора не пострадают.

Являясь одним из важных средств определения структуры материалов, РФА широко используется в материаловедении, физике, химии, медицине и других областях.

Рентгеновский дифрактометр в основном используется для определения фазовых характеристик, количественного анализа, анализа кристаллической структуры, анализа структуры материала, анализа ориентации кристаллов порошковых, блочных или тонких пленочных образцов и т. д.

В рентгеновском анализе - прибор, используемый для измерения угла между падающим рентгеновским лучом и дифрагированным рентгеновским лучом. Дифрактометр автоматически отображает изменение интенсивности дифракции в зависимости от угла 2θ.

Поликристаллический рентгеновский дифрактометр, также известный как порошковый дифрактометр, обычно используется для измерения порошковых, поликристаллических металлических или полимерных сыпучих материалов.